Conférences sur les statistiques de PI pour les décideurs

La conférence annuelle sur les statistiques de PI compte parmi les plus importantes manifestations au monde en matière de statistiques de PI. Lancée à l'initiative de l'OEB et de l'OCDE en 2006 à Vienne, elle représente un forum unique pour la présentation des données empiriques les plus récentes, fondées sur les statistiques en matière de brevets, de marques, de dessins ou modèles et de droits d'auteur. Elle permet également la tenue de discussions concernant les enseignements correspondants avec des universitaires, consultants, éditeurs, statisticiens et utilisateurs commerciaux, venus tant des secteurs public que privé.

Dans ce contexte, l'OEB a une mission claire à accomplir, à savoir fournir des données brevets de qualité afin de soutenir l'industrie, les inventeurs et les dirigeants dans leur prise de décisions. C'est la raison pour laquelle l'OEB organise traditionnellement la journée des utilisateurs PATSTAT, une manifestation en marge de la Conférence sur les statistiques de PI, au cours de laquelle la communauté PATSTAT est informée des caractéristiques nouvelles et intéressantes de la base de données.

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