European Patent Office

T 1740/23 vom 09.07.2025

Europäischer Rechtsprechungsidentifikator
ECLI:EP:BA:2025:T174023.20250709
Datum der Entscheidung
9. Juli 2025
Aktenzeichen
T 1740/23
Online am
16. September 2025
Antrag auf Überprüfung von
-
Anmeldenummer
14850023.4
Verfahrenssprache
Englisch
Verteilung
Nicht verteilt (D)
Amtsblattfassungen
Keine AB-Links gefunden
Weitere Entscheidungen für diese Akte
-
Zusammenfassungen für diese Entscheidung
-
Bezeichnung der Anmeldung
ANALYSIS DEVICE, MICROSCOPE DEVICE, ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM
Name des Antragstellers
Nikon Corporation
Name des Einsprechenden
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Leica Microsystems CMS GmbH
Kammer
3.4.02
Leitsatz
-
Schlagwörter
Novelty (no)
Novelty - main request, 4th, 5th and 9th auxiliary requests
Claims - clarity (no)
Claims - 1st to 3rd and 6th to 8th auxiliary requests
Orientierungssatz
-
Zitierte Akten
-
Zitierende Akten
-

Order

For these reasons it is decided that:

The appeal is dismissed.