https://www.epo.org/de/node/wo-finde-ich-patentstatistiken

Wo finde ich Patentstatistiken?

Grundlegende Produktionsstatistiken des EPA, z. B. über das Anmeldeaufkommen auf einzelnen technischen Gebieten, den Sitz von Anmeldern und Erfindern oder die aktivsten Anmelder, finden Sie in unseren Jahresberichten und in der Broschüre "Fakten und Zahlen".

Eine Aufschlüsselung dieser allgemeinen Statistiken nach EPÜ-Vertragsstaaten wird auf der EPA-Website und auch in den Jahresberichten veröffentlicht.

Statistiken der IP5-Ämter

  • Europäisches Patentamt (EPA),
  • Japanisches Patentamt (JPO),
  • Amt für geistiges Eigentum der Republik Korea (KIPO),
  • Nationalbehörde für geistiges Eigentum der Volksrepublik China (CNIPA) und
  • Patent- und Markenamt der Vereinigten Staaten (USPTO)

    finden Sie in den IP5-Statistikberichten, die auch einen Überblick über die wichtigsten statistischen IP5-Kennzahlen bieten.

    Für komplexere Statistiken auf der Grundlage der EPA-Daten empfehlen wir Ihnen unsere Produkte für die Patentinformationsrecherche und -analyse, wie z. B. PATSTAT, Espacenet und den Global Patent Index (GPI). Diese Patentinformationsprodukte erlauben es Ihnen, Daten auszuwählen und für eine genauere Analyse und Auswertung in andere Anwendungen (Microsoft Excel oder Access) zu exportieren.

    PATSTAT, die weltweite Patentstatistik-Datenbank des EPA, ist ein Abonnementprodukt, das primär für Patentexperten aus Forschungsinstituten, Universitäten, Regierungsbehörden und ähnlichen Einrichtungen gedacht ist. Die Datenbank wurde vom EPA im Auftrag der OECD-Task-Force "Patentstatistik" für die weiterführende statistische Forschung entwickelt. Sie ist sowohl in Form von Massendatensätzen als auch online (PATSTAT Online) verfügbar. Allerdings müssen ihre Nutzer, da sie auf SQL basiert, im Umgang mit Datenbanken und relationalen Datenbank-Management-Systemen erfahren sein (siehe auch FAQ - Patentstatistik).

    In Espacenet erlauben grundlegende Filterfunktionen die Durchführung statistischer Analysen und das Filtern der Abfrageergebnisse nach vordefinierten Kategorien (z. B. nach Veröffentlichungsländern, Anmelder- oder Erfindername oder -land, Klassifikationssymbolen) sowie die Visualisierung der Ergebnisse.

    Der Global Patent Index (GPI) ist ebenfalls abonnementpflichtig und erlaubt es, komplexe boolesche Abfragen und grundlegende statistische Analysen zu erstellen sowie die Ergebnisse zu visualisieren.