T 0496/95 du 16.09.1999
- Identifiant européen de la jurisprudence
- ECLI:EP:BA:1999:T049695.19990916
- Date de la décision
- 16 septembre 1999
- Numéro de l'affaire
- T 0496/95
- En ligne le
- 24 septembre 1999
- Requête en révision de
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- Numéro de la demande
- 89111873.9
- Classe de la CIB
- H01L 31/0224H01L 31/105
- Langue de la procédure
- Allemand
- Distribution
- Distribuées aux présidents des chambres de recours (C)
- Téléchargement
- Décision en allemand
- Versions JO
- Aucun lien JO trouvé
- Autres décisions pour cet affaire
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- Résumés pour cette décision
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- Titre de la demande
- Ohmscher Kontakt für eine p-leitende Schicht eines InP-Substrates von Fotodioden und Verfahren zu dessen Herstellung
- Nom du demandeur
- SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- Nom de l'opposant
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- Chambre
- 3.4.02
- Sommaire
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- Dispositions juridiques pertinentes
- European Patent Convention Art 84 1973
- Mots-clés
- Klarheit der Ansprüche (verneint)
Entscheidung nach Aktenlage - Exergue
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- Affaires citées
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- Affaires citantes
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ENTSCHEIDUNGSFORMEL
Aus diesen Gründen wird entschieden:
Die Beschwerde wird zurückgewiesen.