FAQ - Patentstatistik

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Warum ist Patentstatistik wichtig?

Patentstatistik kann eingesetzt werden, um den Entwicklungsstand gewisser Technologien zu bestimmen oder technologische Trends zu erkennen. Durch den Vergleich der Anmeldezahlen mit der Zahl der Anmelder lässt sich feststellen, ob die Forschungstätigkeit konzentriert oder breit gestreut stattfindet. Dies lässt sich anhand einer "Patentlandkarte" illustrieren.


Was ist Patent-Mapping?

Patent-Mapping ist im Grunde nichts anderes als die Visualisierung der Ergebnisse von statistischen Analysen und sog. "Text-Mining-Verfahren" (automatisierten Textanalysen), die auf Patentdoku­mente angewandt werden. Mit Patent-Mapping lassen sich Informationen aus Patenten und über Patente leicht verständlich darstellen. Es eignet sich hervorragend dazu, große Mengen von Patent­daten zu bewerten. Anhand bibliografischer Daten lässt sich feststellen, auf welchen technischen Gebieten bestimmte Anmelder aktiv sind und wie sich ihr Anmeldemuster und ihr IP-Portfolio im Laufe der Zeit verändern. Man kann auch erkennen, welche Länder auf welchen Gebieten führend sind.


Wer nutzt Patentstatistik und Patent-Mapping?

Patentstatistik und Patent-Mapping bieten wertvolle Informationen für Entscheidungsträger in Unternehmen, Investoren (Venture-Capital-Gesellschaften, Förderbanken), Innovatoren (F&E), Einflussnehmer (Patentämter, politische Entscheidungsträger) und Führungskräfte.


Wie erstelle ich eine Patentlandkarte? Welche Schritte sind erforderlich?

Schritt 1:
Sammeln
  • Legen Sie fest, welche Daten Sie analysieren wollen.
  • Wählen Sie eine Datenbank mit den gewünschten Informationen aus.
  • Legen Sie Ihre Suchabfrage fest (Zeitraum, IPC, Stichwörter usw.).
  • Sammeln Sie Daten; filtern Sie irrelevante oder unzureichende Informationen heraus.
  • Vereinheitlichen Sie die Anmeldernamen.
Schritt 2:
Analysieren

Unterziehen Sie die strukturierten Informationen (bibliografische Daten, Anmeldernamen, Erfindungsbezeichnungen usw.) einer statistischen Analyse. Wenden Sie ein Text-Mining-Verfahren auf die unstrukturierten Informationen (Zusammenfassung, Beschreibung und Ansprüche) an.

 

  • Exportieren Sie den gesamten Datensatz in ein Tabellenkalkula­tions­programm.
  • Definieren Sie den Zweck der Analyse (z. B. Technologien, Patentanmeldung).
  • Teilen Sie den Dokumenten Informationskategorien zu.
  • Starten Sie die statistische Analyse.
  • Prüfen Sie die Ergebnisse.

 

Schritt 3: Visualisieren

Visualisieren Sie die Ergebnisse Ihrer statistischen Analyse in einer Patentland­karte. Es gibt viele verschiedene Patentlandkarten für unterschiedliche Zwecke bzw. Nutzer. Um die Ergebnisse Ihrer statistischen Analyse darzustellen, können Sie verschiedene Diagrammtypen verwenden, z. B. einfache Balken- oder Linien­diagramme, Flächendiagramme oder Blasendiagramme. Auf all diese Arten lassen sich Patentlandkarten darstellen.


Wo kann ich beim EPA Informationen über Patentstatistiken erhalten?

Grundlegende Produktionsstatistiken des EPA, z. B. über das Anmeldeaufkommen auf einzelnen technischen Gebieten, den Sitz von Anmeldern und Erfindern oder die aktivsten Anmelder, finden Sie auf der Webseite mit den allgemeinen Statistiken, die auch eine Aufschlüsselung nach EPÜ-Vertragsstaaten umfasst. Eine Zusammenfassung dieser statistischen Daten wird in der Broschüre "Fakten und Zahlen" veröffentlicht.


Wo finde ich sonst noch patentbezogene Statistiken?

IP5-Ämter

Statistiken der IP5-Ämter

  • Europäisches Patentamt (EPA),
  • Japanisches Patentamt (JPO),
  • Amt für geistiges Eigentum der Republik Korea (KIPO),
  • Nationalbehörde für geistiges Eigentum der Volksrepublik China (CNIPA) und
  • Patent- und Markenamt der Vereinigten Staaten (USPTO)
finden Sie in den IP5-Statistikberichten, die auch einen Überblick über die wichtigsten statistischen IP5-Kennzahlen bieten.
WIPO

Auf der Website der WIPO finden sich Patentstatistiken und Statis­tiken zum PCT.

OECD

Die OECD befasst sich im Patentbereich mit verschiedenen Patentindikatoren, die die Innovationstrends in zahlreichen OECD- und Nicht-OECD-Staaten widerspiegeln, wobei sie sich auf sechs Hauptbereiche konzentriert: EPA-, USPTO- und JPO-Patentfamilien; Patentierung auf nationaler, regionaler und internationaler Ebene; Patentierung in ausgewählten Technologiebereichen; Aufschlüsselung von Patenten nach institutionellen Sektoren; internationale Zusammenarbeit im Patentwesen; Anführungen europäischer und internationaler Patente


Kann ich in Espacenet Statistiken erstellen?

In Espacenet erlauben grundlegende Filterfunktionen die Durchführung statistischer Analysen und das Filtern der Abfrageergebnisse nach vordefinierten Kategorien (z. B. nach Veröffentlichungsländern, Anmelder- oder Erfindername oder -land, Klassifikationssymbolen) sowie die Visualisierung der Ergebnisse. Die einzelnen Filter lassen sich mit booleschen Operatoren (AND, OR, NOT) zu komplexeren Filterfunktionen und statistischen Analysen verknüpfen. Filter können auf Ebene der Veröffentlichungen und der Patentfamilien angewendet werden.

Ausführlichere Informationen zur Nutzung der Filterfunktionen finden Sie im Artikel "Neue Filtermöglichkeiten in Espacenet" auf Seite 6 der Patent Information News 1/2019.


Stellt das EPA maßgeschneiderte Datensätze, statistische Analysen oder Instrumente zur automatischen Erstellung von Patentlandkarten zur Verfügung?

Nein. Das EPA kann Sie beraten und Ihnen geeignete Systeme empfehlen, mit denen Sie Patent­statis­tiken auswerten und Patentlandkarten erstellen können. Es bietet jedoch keine maßgeschnei­derten Datensätze oder statistischen Analysen an und hat keine Instrumente zur automatischen Erstellung von Patentlandkarten entwickelt.

Achten Sie im recherchierbaren Veranstaltungskalender des EPA auf Kurse im "virtuellen Klassen­zimmer" zu Patent-Mapping und Patentstatistik.


Wo liegen die Grenzen von Patent-Mapping und Patentstatistik?

Häufig genügt es nicht, Patente rein zahlenmäßig zu betrachten, denn der Wert eines Patents kann stark variieren. Was es zu beurteilen gilt, ist vielmehr die Bedeutung einer Erfindung, und zwar ausgehend von solch wichtigen Indikatoren wie der Größe der Patentfamilie, der Geltungsdauer des Patents und der Zahl der Anführungen des Patents.

Außerdem sollte man die Ergebnisse stets mit anderen Quellen abgleichen, wie etwa Marktinformationen und Expertenmeinungen. Hilfreich ist auch eine gute Kenntnis des Patenterteilungsverfahrens.


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