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Warum ist Patentstatistik wichtig?
Patentstatistik kann eingesetzt werden, um den Entwicklungsstand gewisser Technologien zu bestimmen oder technologische Trends zu erkennen. Durch den Vergleich der Anmeldezahlen mit der Zahl der Anmelder lässt sich feststellen, ob die Forschungstätigkeit konzentriert oder breit gestreut stattfindet. Dies lässt sich anhand einer "Patentlandkarte" illustrieren.
Was ist Patent-Mapping?
Patent-Mapping ist im Grunde nichts anderes als die Visualisierung der Ergebnisse von statistischen Analysen und sog. "Text-Mining-Verfahren" (automatisierten Textanalysen), die auf Patentdokumente angewandt werden. Mit Patent-Mapping lassen sich Informationen aus Patenten und über Patente leicht verständlich darstellen. Es eignet sich hervorragend dazu, große Mengen von Patentdaten zu bewerten. Anhand bibliografischer Daten lässt sich feststellen, auf welchen technischen Gebieten bestimmte Anmelder aktiv sind und wie sich ihr Anmeldemuster und ihr IP-Portfolio im Laufe der Zeit verändern. Man kann auch erkennen, welche Länder auf welchen Gebieten führend sind.
Wer nutzt Patentstatistik und Patent-Mapping?
Patentstatistik und Patent-Mapping bieten wertvolle Informationen für Entscheidungsträger in Unternehmen, Investoren (Venture-Capital-Gesellschaften, Förderbanken), Innovatoren (F&E), Einflussnehmer (Patentämter, politische Entscheidungsträger) und Führungskräfte.
Wie erstelle ich eine Patentlandkarte? Welche Schritte sind erforderlich?
Schritt 1:
Sammeln |
- Legen Sie fest, welche Daten Sie analysieren wollen.
- Wählen Sie eine Datenbank mit den gewünschten Informationen aus.
- Legen Sie Ihre Suchabfrage fest (Zeitraum, IPC, Stichwörter usw.).
- Sammeln Sie Daten; filtern Sie irrelevante oder unzureichende Informationen heraus.
- Vereinheitlichen Sie die Anmeldernamen.
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Schritt 2:
Analysieren |
Unterziehen Sie die strukturierten Informationen (bibliografische Daten, Anmeldernamen, Erfindungsbezeichnungen usw.) einer statistischen Analyse. Wenden Sie ein Text-Mining-Verfahren auf die unstrukturierten Informationen (Zusammenfassung, Beschreibung und Ansprüche) an.
- Exportieren Sie den gesamten Datensatz in ein Tabellenkalkulationsprogramm.
- Definieren Sie den Zweck der Analyse (z. B. Technologien, Patentanmeldung).
- Teilen Sie den Dokumenten Informationskategorien zu.
- Starten Sie die statistische Analyse.
- Prüfen Sie die Ergebnisse.
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| Schritt 3: Visualisieren |
Visualisieren Sie die Ergebnisse Ihrer statistischen Analyse in einer Patentlandkarte. Es gibt viele verschiedene Patentlandkarten für unterschiedliche Zwecke bzw. Nutzer. Um die Ergebnisse Ihrer statistischen Analyse darzustellen, können Sie verschiedene Diagrammtypen verwenden, z. B. einfache Balken- oder Liniendiagramme, Flächendiagramme oder Blasendiagramme. Auf all diese Arten lassen sich Patentlandkarten darstellen.
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Wo kann ich beim EPA Informationen über Patentstatistiken erhalten?
Einfache Statistiken über die Geschäftszahlen des EPA, z. B. über das Anmeldeaufkommen einzelner technischer Gebiete, den Sitz von Anmeldern und Erfindern oder die aktivsten Anmelder, sind der Seite "Statistik" zu entnehmen, auf der eine Aufschlüsselung nach EPÜ-Vertragsstaaten abgerufen werden kann (auch in den EPA-Jahresberichten nachzulesen). Eine kurze Zusammenfassung dieser statistischen Daten ist in der Broschüre Fakten und Zahlen enthalten.
Wo finde ich sonst noch patentbezogene Statistiken?
| Eurostat |
Statistische Angaben für den EU-Raum werden auf der Eurostat-Website veröffentlicht (auf der Seite "Wissenschaft und Technologie" unter "Patente").
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| Dreiseitige Zusammenarbeit |
Der Trilaterale Statistik-Bericht wird jedes Jahr auf der Website der trilateralen Zusammenarbeit veröffentlicht und enthält Statistiken des EPA, des JPO und des USPTO seit 1996. Er gibt auch Überblick über das weltweite Anmeldeverhalten und enthält Details bzw. vergleichende Angaben zu den Verfahren der jeweiligen Ämter.
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| WIPO |
Auf der Website der WIPO finden sich Patentstatistiken und Statistiken zum PCT.
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| OECD |
Zu den Aktivitäten der OECD im Patentbereich gehört die Vergabe von verschiedenen Patentindikatoren, die Innovationstrends in zahlreichen OECD- und Nicht-OECD-Staaten anzeigen. Die sechs Hauptbereiche umfassen: EPA-, USPTO- und JPO-Patentfamilien; Patentierung auf nationaler, regionaler und internationaler Ebene; Patentierung in ausgewählten Technologiebereichen; Aufschlüsselung von Patenten nach institutionellen Sektoren; internationale Zusammenarbeit im Patentwesen; Anführungen europäischer und internationaler Patente
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Kann man aus Espacenet Statistiken erstellen?
Aus Espacenet lassen sich keine Statistiken gewinnen. Der Hauptzweck von Espacenet ist die Suche nach Patenten auf einem bestimmten technischen Gebiet, von einem bestimmten Erfinder/Anmelder usw. Die angegebene Trefferzahl ist nur ein ungefährer Wert, der anhand der durchschnittlichen Patentfamiliengröße ermittelt wird.
Stellt das EPA maßgeschneiderte Datensätze, statistische Analysen oder Instrumente zur automatischen Erstellung von Patentlandkarten zur Verfügung?
Nein. Das EPA kann Sie beraten und Ihnen geeignete Systeme empfehlen, mit denen Sie Patentstatistiken auswerten und Patentlandkarten erstellen können. Es bietet jedoch keine maßgeschneiderten Datensätze oder statistischen Analysen an und hat keine Instrumente zur automatischen Erstellung von Patentlandkarten entwickelt.
Achten Sie im recherchierbaren Veranstaltungskalender des EPA auf Kurse im "virtuellen Klassenzimmer" zu Patent-Mapping und Patentstatistik.
Welche kommerziellen Datenbanken eignen sich für die Analyse von Patentstatistiken und die Erstellung von Patentlandkarten?
Gute Hinweise zu kommerziellen Datenbanken sowie Produkten im Zusammenhang mit Patentstatistik und Patent-Mapping enthält das Dokument "Patent analysis for competitive technical intelligence and innovative thinking". Hinzuweisen wäre auch auf das "Guide Book for Practical Use of "Patent Map for Each Technology Field", das vom japanischen Patentamt (JPO) und dem Asia-Pacific Industrial Property Center, JIII, herausgegeben wurde.
Bei der Wahl eines passenden Systems für Patent-Mapping kann Sie auch Herr Johannes Schaaf (jschaaf@epo.org) gerne beraten.
Wo liegen die Grenzen von Patent-Mapping und Patentstatistik?
Häufig genügt es nicht, Patente rein zahlenmäßig zu betrachten, denn der Wert eines Patents kann stark variieren. Was es zu beurteilen gilt, ist vielmehr die Bedeutung einer Erfindung, die z. B. anhand folgender wichtiger Indikatoren bewertet werden kann: Größe der Patentfamilie, Geltungsdauer des Patents sowie Anzahl der Zitierungen des Patents.
Manche Patentstatistik-Quellen beschränken sich auf Daten eines bestimmten geografischen Raums; ESPACE Bulletin z. B. enthält nur Daten zu europäischen Veröffentlichungen.
Außerdem sollte man die Ergebnisse stets mit anderen Quellen abgleichen, wie etwa Marktinformationen und Expertenmeinungen. Im Übrigen sollten Sie auch mit dem Patenterteilungsverfahren vertraut sein.
