Patentstatistik kann eingesetzt werden, um den Entwicklungsstand gewisser Technologien zu bestimmen oder technologische Trends zu erkennen. Durch den Vergleich der Anmeldezahlen mit der Zahl der Anmelder lässt sich feststellen, ob die Forschungstätigkeit konzentriert oder breit gestreut stattfindet. Dies lässt sich anhand einer "Patentlandkarte" illustrieren.
Patent-Mapping ist im Grunde nichts anderes als die Visualisierung der Ergebnisse von statistischen Analysen und sog. "Text-Mining-Verfahren" (automatisierten Textanalysen), die auf Patentdokumente angewandt werden. Mit Patent-Mapping lassen sich Informationen aus Patenten und über Patente leicht verständlich darstellen. Es eignet sich hervorragend dazu, große Mengen von Patentdaten zu bewerten. Anhand bibliografischer Daten lässt sich feststellen, auf welchen technischen Gebieten bestimmte Anmelder aktiv sind und wie sich ihr Anmeldemuster und ihr IP-Portfolio im Laufe der Zeit verändern. Man kann auch erkennen, welche Länder auf welchen Gebieten führend sind.
Patentstatistik und Patent-Mapping bieten wertvolle Informationen für Entscheidungsträger in Unternehmen, Investoren (Venture-Capital-Gesellschaften, Förderbanken), Innovatoren (F&E), Einflussnehmer (Patentämter, politische Entscheidungsträger) und Führungskräfte.
| Schritt 1: Sammeln |
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| Schritt 2: Analysieren |
Unterziehen Sie die strukturierten Informationen (bibliografische Daten, Anmeldernamen, Erfindungsbezeichnungen usw.) einer statistischen Analyse. Wenden Sie ein Text-Mining-Verfahren auf die unstrukturierten Informationen (Zusammenfassung, Beschreibung und Ansprüche) an.
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| Schritt 3: Visualisieren |
Visualisieren Sie die Ergebnisse Ihrer statistischen Analyse in einer Patentlandkarte. Es gibt viele verschiedene Patentlandkarten für unterschiedliche Zwecke bzw. Nutzer. Um die Ergebnisse Ihrer statistischen Analyse darzustellen, können Sie verschiedene Diagrammtypen verwenden, z. B. einfache Balken- oder Liniendiagramme, Flächendiagramme oder Blasendiagramme. Auf all diese Arten lassen sich Patentlandkarten darstellen. |
Grundlegende Produktionsstatistiken des EPA, z. B. über das Anmeldeaufkommen auf einzelnen technischen Gebieten, den Sitz von Anmeldern und Erfindern oder die aktivsten Anmelder, finden Sie auf der Webseite mit den allgemeinen Statistiken, die auch eine Aufschlüsselung nach EPÜ-Vertragsstaaten umfasst. Eine Zusammenfassung dieser statistischen Daten wird in der Broschüre "Fakten und Zahlen" veröffentlicht.
| IP5-Ämter |
Statistiken der IP5-Ämter
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| WIPO |
Auf der Website der WIPO finden sich Patentstatistiken und Statistiken zum PCT. |
| OECD |
Die OECD befasst sich im Patentbereich mit verschiedenen Patentindikatoren, die die Innovationstrends in zahlreichen OECD- und Nicht-OECD-Staaten widerspiegeln, wobei sie sich auf sechs Hauptbereiche konzentriert: EPA-, USPTO- und JPO-Patentfamilien; Patentierung auf nationaler, regionaler und internationaler Ebene; Patentierung in ausgewählten Technologiebereichen; Aufschlüsselung von Patenten nach institutionellen Sektoren; internationale Zusammenarbeit im Patentwesen; Anführungen europäischer und internationaler Patente |
Es gibt vier EPA-Produkte, mit denen eine Extraktion von Daten und/oder Statistiken möglich ist. Jedes dieser Produkte umfasst weltweite Patentdaten.
Espacenet
In Espacenet erlauben grundlegende Filterfunktionen die Durchführung statistischer Analysen und das Filtern der Abfrageergebnisse nach vordefinierten Kategorien (z. B. nach Veröffentlichungsländern, Anmelder- oder Erfindername oder -land, Klassifikationssymbolen) sowie die Visualisierung der Ergebnisse. Die einzelnen Filter lassen sich mit booleschen Operatoren (AND, OR, NOT) zu komplexeren Filterfunktionen und statistischen Analysen verknüpfen. Filter können auf Ebene der Veröffentlichungen und der Patentfamilien angewendet werden.
Global Patent Index (GPI)
GPI ist als Abonnement erhältlich, und Sie können einen Monat lang kostenlos Zugriff erhalten, um es auszuprobieren. Die Daten werden wöchentlich aktualisiert, und die Formulierung von Suchanfragen erfolgt mit einer intuitiven und leicht zu erlernenden Fragesyntax. GPI ermöglicht sehr viel ausgefeiltere Recherchen als Espacenet. GPI hat ein Statistik-Fenster, das gebrauchsfertige einfache Grafiken oder Cross-reference-Grafiken liefert. Diese Grafiken können im JSON- oder CSV-Format heruntergeladen werden. GPI erlaubt es auch, eine nutzerdefinierte Liste mit Recherchenergebnissen herunterzuladen (50 im Probemodus / 10 000 im Abonnement), mit denen Sie dann anhand eigener Visualisierungs- oder Analysetools Grafiken oder Tabellen erstellen können.
PATSTAT Online
PATSTAT Online ist als Abonnement erhältlich, aber Sie können einen Monat lang kostenlos Zugriff erhalten, um die benötigten Daten oder Grafiken zu extrahieren. Die Daten werden zweimal jährlich aktualisiert, und die Formulierung von Suchanfragen erfolgt mit SQL. PATSTAT Online lässt Ihnen vollkommen freie Hand bei der Kombination von Datenattributen oder Tabellen bei SQL-Anfragen, aber die Plattform bietet nur reinen Lesezugriff. PATSTAT Online hat ein Statistik-Fenster, das ähnlich wie GPI gebrauchsfertige einfache Grafiken oder Cross-reference-Grafiken liefert. PATSTAT Online ermöglicht es auch, Ergebnislisten herunterzuladen (bis zu 10 000 in der Gratisversion und 700 000 im Abonnement), mit denen Sie dann anhand eigener Visualisierungs- oder Analysetools Grafiken oder Tabellen erstellen können. PATSTAT Online erlaubt ferner Datenbankextraktionen (MS ACCES oder CSV) auf der Basis einer Ergebnisliste mit bis zu 100 000 Patentanmeldungen.
PATSTAT Global
PATSTAT Global ist als Abonnement erhältlich. Es ist das Flaggschiffprodukt des EPA für Nutzer, die komplexe und anspruchsvolle Datenanalysen vornehmen wollen. Die Daten werden zweimal jährlich aktualisiert und als Satz von CSV-Dateien geliefert, die eine vorgefertigte relationale Datenbank darstellen. Wenn Sie PATSTAT in eigenen Räumlichkeiten hosten, können Sie die Daten uneingeschränkt aggregieren, verknüpfen oder verändern und dazu beliebige Tools und jede gewünschte Plattform oder Hosting-Umgebung verwenden. Die Nutzer können von zahlreichen Datensätzen Gebrauch machen, die nicht vom EPA stammen und sich mit PATSTAT verknüpfen lassen. PATSTAT Global ist dank ihrer Flexibilität und der großzügigen Nutzungsbedingungen die bevorzugte Datenbank für ökonometrische Analysen. Genutzt wird sie häufig von Hochschulen, Politik und Forschungsinstituten.
Nein. Das EPA kann Sie beraten und Ihnen geeignete Systeme empfehlen, mit denen Sie Patentstatistiken auswerten und Patentlandkarten erstellen können. Es bietet jedoch keine maßgeschneiderten Datensätze oder statistischen Analysen an und hat keine Instrumente zur automatischen Erstellung von Patentlandkarten entwickelt.
Achten Sie im recherchierbaren Veranstaltungskalender des EPA auf Kurse im "virtuellen Klassenzimmer" zu Patent-Mapping und Patentstatistik.
Häufig genügt es nicht, Patente rein zahlenmäßig zu betrachten, denn der Wert eines Patents kann stark variieren. Was es zu beurteilen gilt, ist vielmehr die Bedeutung einer Erfindung, und zwar ausgehend von solch wichtigen Indikatoren wie der Größe der Patentfamilie, der Geltungsdauer des Patents und der Zahl der Anführungen des Patents.
Außerdem sollte man die Ergebnisse stets mit anderen Quellen abgleichen, wie etwa Marktinformationen und Expertenmeinungen. Hilfreich ist auch eine gute Kenntnis des Patenterteilungsverfahrens.
