T 0747/90 vom 05.03.1992
- Europäischer Rechtsprechungsidentifikator
- ECLI:EP:BA:1992:T074790.19920305
- Datum der Entscheidung
- 5. März 1992
- Aktenzeichen
- T 0747/90
- Online am
- 7. September 1992
- Antrag auf Überprüfung von
- -
- Anmeldenummer
- 85115653.9
- IPC-Klasse
- H01J 37/22
- Verfahrenssprache
- Englisch
- Verteilung
- An die Kammervorsitzenden und -mitglieder verteilt (B)
- Download
- Entscheidung auf Englisch
- Amtsblattfassungen
- Keine AB-Links gefunden
- Weitere Entscheidungen für diese Akte
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- Zusammenfassungen für diese Entscheidung
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- Bezeichnung der Anmeldung
- Method of detecting a focus defect of an electron microscope image
- Name des Antragstellers
- FUJI PHOTO FILM CO., LTD.
- Name des Einsprechenden
- -
- Kammer
- 3.4.01
- Leitsatz
- -
- Relevante Rechtsnormen
- European Patent Convention Art 56 1973European Patent Convention Art 111(1) 1973
- Schlagwörter
- Inventive step (yes, with respect to the state of the art taken into consideration during the examination procedure);
; - Orientierungssatz
- -
- Zitierte Akten
- -
- Zitierende Akten
- -
ORDER
For these reasons, it is decided that:
1. The decision of the Examining Division dated 25 April 1990 is set aside.
2. The case is remitted to the first instance for further examination.