T 0801/00 du 25.06.2003
- Identifiant européen de la jurisprudence
- ECLI:EP:BA:2003:T080100.20030625
- Date de la décision
- 25 juin 2003
- Numéro de l'affaire
- T 0801/00
- Requête en révision de
- -
- Numéro de la demande
- 91110658.1
- Classe de la CIB
- G01N 23/223
- Langue de la procédure
- Anglais
- Distribution
- Distribuées aux présidents des chambres de recours (C)
- Téléchargement
- Décision en anglais
- Versions JO
- Aucun lien JO trouvé
- Autres décisions pour cet affaire
- -
- Résumés pour cette décision
- -
- Titre de la demande
- System for analyzing metal impurity on the surface of a single crystal semiconductor by using total reflection of x-rays fluorescence
- Nom du demandeur
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- Nom de l'opposant
- GKSS-Forschungszentrum Geesthacht GmbH
- Chambre
- 3.4.02
- Sommaire
- -
- Dispositions juridiques pertinentes
- European Patent Convention Art 114(2) 1973European Patent Convention Art 56 1973European Patent Convention R 64(b) 1973
- Mots-clés
- Admissibilty of the appeal (yes)
Late filed documents (not admitted) - Exergue
- -
- Affaires citées
- T 0252/95
- Affaires citantes
- -
ORDER
For these reasons it is decided that:
The appeal is dismissed.