T 0801/00 vom 25.06.2003
- Europäischer Rechtsprechungsidentifikator
- ECLI:EP:BA:2003:T080100.20030625
- Datum der Entscheidung
- 25. Juni 2003
- Aktenzeichen
- T 0801/00
- Antrag auf Überprüfung von
- -
- Anmeldenummer
- 91110658.1
- IPC-Klasse
- G01N 23/223
- Verfahrenssprache
- Englisch
- Verteilung
- An die Kammervorsitzenden verteilt (C)
- Download
- Entscheidung auf Englisch
- Amtsblattfassungen
- Keine AB-Links gefunden
- Weitere Entscheidungen für diese Akte
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- Zusammenfassungen für diese Entscheidung
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- Bezeichnung der Anmeldung
- System for analyzing metal impurity on the surface of a single crystal semiconductor by using total reflection of x-rays fluorescence
- Name des Antragstellers
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- Name des Einsprechenden
- GKSS-Forschungszentrum Geesthacht GmbH
- Kammer
- 3.4.02
- Leitsatz
- -
- Relevante Rechtsnormen
- European Patent Convention Art 114(2) 1973European Patent Convention Art 56 1973European Patent Convention R 64(b) 1973
- Schlagwörter
- Admissibilty of the appeal (yes)
Late filed documents (not admitted) - Orientierungssatz
- -
- Zitierte Akten
- T 0252/95
- Zitierende Akten
- -
ORDER
For these reasons it is decided that:
The appeal is dismissed.