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Directives relatives à l'examen pratiqué

 
 

4.2 Pas d'examen d'inventions multiples dans la phase européenne

Bien que dans la procédure au titre du chapitre II du PCT devant l'OEB agissant en qualité d'IPEA, le demandeur puisse requérir l'examen d'inventions multiples dans un seul IPER s'il acquitte des taxes d'examen additionnelles (ou si l'examinateur a décidé de ne pas inviter le demandeur à acquitter des taxes additionnelles), dans la procédure européenne, l'examen portera sur une seule invention.

Dans les cas où la protection est demandée pour une invention qui n'est pas couverte par le rapport de recherche internationale (supplémentaire), le rapport complémentaire de recherche européenne ou une recherche effectuée au titre de la règle 164(2) au motif que la taxe de recherche exigible n'a pas été acquittée, la division d'examen doit inviter le demandeur à limiter la demande à une seule invention couverte par l'une de ces recherches. La procédure au titre de la règle 164(2) est exposée en détail au point C‑III, 2.3.

Si, après réception du rapport (complémentaire) de recherche européenne ou, le cas échéant, d'une notification émise en vertu de la règle 164(2)b), le demandeur dépose des revendications modifiées portant sur une invention qui diffère de toutes les inventions revendiquées initialement et qui ne forme pas, en combinaison avec ces dernières, un seul concept inventif, il y a lieu de soulever une objection au titre de la règle 137(5) (cf. également F‑V, 13 et H‑II, 6).