Skip to main content Skip to footer
HomeHome
 
  • Startseite
  • Patentrecherche

    Patentwissen

    Unsere Patentdatenbanken und Recherchetools

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Technische Information
      • Übersicht
      • Espacenet - Patentsuche
      • Europäischer Publikationsserver
      • EP-Volltextrecherche
    • Rechtliche Information
      • Übersicht
      • Europäisches Patentregister
      • Europäisches Patentblatt
      • European Case Law Identifier Sitemap
      • Einwendungen Dritter
    • Geschäftsinformationen
      • Übersicht
      • PATSTAT
      • IPscore
      • Technologieanalyseberichte
    • Daten
      • Übersicht
      • Technology Intelligence Platform
      • Linked open EP data
      • Massendatensätze
      • Web-Dienste
      • Datenbestände, Codes und Statistiken
    • Technologieplattformen
      • Übersicht
      • Digitalisierung in der Landwirtschaft
      • Kunststoffe im Wandel
      • Innovationen im Wassersektor
      • Innovationen im Weltraumsektor
      • Technologien zur Bekämpfung von Krebs
      • Technologien zur Brandbekämpfung
      • Saubere Energietechnologien
      • Kampf gegen Corona
    • Nützliche Informationsquellen
      • Übersicht
      • Zum ersten Mal hier? Was ist Patentinformation?
      • Patentinformation aus Asien
      • Patentinformationszentren (PATLIB)
      • Patent Translate
      • Patent Knowledge News
      • Wirtschaft und Statistik
      • Patentinformationen rund um den einheitlichen Patentschutz
    Bild
    EPO TIR study-Agriculture-web-720 x 237

    Technologieanalysebericht zur Digitalisierung in der Landwirtschaft

  • Anmelden eines Patents

    Anmelden eines Patents

    Praktische Informationen über Anmelde- und Erteilungsverfahren.

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Europäischer Weg
      • Übersicht
      • Leitfaden zum europäischen Patent
      • Einsprüche
      • Mündliche Verhandlung
      • Beschwerden
      • Einheitspatent & Einheitliches Patentgericht
      • Nationale Validierung
      • Antrag auf Erstreckung/Validierung
    • Internationaler Weg (PCT)
      • Übersicht
      • Euro-PCT-Leitfaden: PCT-Verfahren im EPA
      • Beschlüsse und Mitteilungen des EPA
      • PCT-Bestimmungen und Informationsquellen
      • Erstreckungs-/Validierungsantrag
      • Programm für verstärkte Partnerschaft
      • Beschleunigung Ihrer PCT-Anmeldung
      • Patent Prosecution Highway (PPH)
      • Schulungen und Veranstaltungen
    • Nationale Anmeldungen
    • Zugelassenen Vertreter suchen
    • MyEPO Services
      • Übersicht
      • Unsere Dienste verstehen
      • Zugriff erhalten
      • Bei uns einreichen
      • Akten interaktiv bearbeiten
      • Verfügbarkeit der Online-Dienste
    • Formblätter
      • Übersicht
      • Prüfungsantrag
    • Gebühren
      • Übersicht
      • Europäische Gebühren (EPÜ)
      • Internationale Gebühren (PCT)
      • Einheitspatentgebühren (UP)
      • Gebührenzahlung und Rückerstattung
      • Warnung
      • Fee Assistant
      • Gebührenermäßigungen und Kompensation

    UP

    Erfahren Sie, wie das Einheitspatent Ihre IP-Strategie verbessern kann

  • Recht & Praxis

    Recht & Praxis

    Europäisches Patentrecht, Amtsblatt und andere Rechtstexte

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Rechtstexte
      • Übersicht
      • Europäisches Patentübereinkommen
      • Amtsblatt
      • Richtlinien
      • Erstreckungs-/ Validierungssyste
      • Londoner Übereinkommen
      • Nationales Recht zum EPÜ
      • Système du brevet unitaire
      • Nationale Maßnahmen zum Einheitspatent
    • Gerichtspraxis
      • Übersicht
      • Symposium europäischer Patentrichter
    • Nutzerbefragungen
      • Übersicht
      • Laufende Befragungen
      • Abgeschlossene Befragungen
    • Harmonisierung des materiellen Patentrechts
      • Übersicht
      • The Tegernsee process
      • Gruppe B+
    • Konvergenz der Verfahren
    • Optionen für Vertreter
    Bild
    Law and practice scales 720x237

    Informieren Sie sich über die wichtigsten Aspekte ausgewählter BK-Entscheidungen in unseren monatlichen „Abstracts of decisions“

  • Neues & Veranstaltungen

    Neues & Veranstaltungen

    Aktuelle Neuigkeiten, Podcasts und Veranstaltungen.

    Zur Übersicht 

     

    • Übersicht
    • News
    • Veranstaltungen
    • Europäischer Erfinderpreis
      • Übersicht
      • Über den Preis
      • Kategorien und Preise
      • Lernen Sie die Finalisten kennen
      • Nominierungen
      • European Inventor Network
      • Preisverleihung 2024
    • Young Inventors Prize
      • Übersicht
      • Über den Preis
      • Nominierungen
      • Die Welt, neu gedacht
      • Preisverleihung 2025
    • Pressezentrum
      • Übersicht
      • Patent Index und Statistiken
      • Pressezentrum durchsuchen
      • Hintergrundinformation
      • Copyright
      • Pressekontakt
      • Rückruf Formular
      • Presseinfos per Mail
    • Innovation und Patente im Blickpunkt
      • Übersicht
      • CodeFest
      • Green tech in focus
      • Forschungseinrichtungen
      • Lifestyle
      • Raumfahrt und Satelliten
      • Zukunft der Medizin
      • Werkstoffkunde
      • Mobile Kommunikation: Das große Geschäft mit kleinen Geräten
      • Biotechnologiepatente
      • Patentklassifikation
      • Digitale Technologien
      • Die Zukunft der Fertigung
      • Books by EPO experts
    • Podcast "Talk innovation"

    Podcast

    Von der Idee zur Erfindung: unser Podcast informiert Sie topaktuell in Sachen Technik und IP

  • Lernen

    Lernen

    Europäische Patentakademie – unser Kursportal für Ihre Fortbildung

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Schulungsaktivitäten und Lernpfade
      • Übersicht
      • Schulungsaktivitäten
      • Lernpfade
    • EEP und EPVZ
      • Übersicht
      • EEP – Europäische Eignungsprüfung
      • EPVZ – Europäisches Patentverwaltungszertifikat
      • CSP – Programm zur Unterstützung von Bewerbern
    • Lernmaterial nach Interesse
      • Übersicht
      • Patenterteilung
      • Technologietransfer und -verbreitung
      • Durchsetzung
    • Lernmaterial nach Profil
      • Übersicht
      • Geschäftswelt und IP
      • EEP und EPVZ Bewerber
      • Justiz
      • Nationale Ämter und IP-Behörden
      • Patentanwaltskanzleien
      • Lehre und Forschung
    Bild
    Patent Academy catalogue

    Werfen Sie einen Blick auf das umfangreiche Lernangebot im Schulungskatalog der Europäischen Patentakademie

  • Über uns

    Über uns

    Erfahren Sie mehr über Tätigkeit, Werte, Geschichte und Vision des EPA

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Das EPA auf einen Blick
    • 50 Jahre Europäisches Patentübereinkommen
      • Übersicht
      • Official celebrations
      • Member states’ video statements
      • 50 Leading Tech Voices
      • Athens Marathon
      • Kinderwettbewerb für kollektive Kunst
    • Rechtsgrundlagen und Mitgliedstaaten
      • Übersicht
      • Rechtsgrundlagen
      • Mitgliedstaaten der Europäischen Patentorganisation
      • Erstreckungsstaaten
      • Validierungsstaaten
    • Verwaltungsrat und nachgeordnete Organe
      • Übersicht
      • Kommuniqués
      • Kalender
      • Dokumente und Veröffentlichungen
      • Der Verwaltungsrat der Europäischen Patentorganisation
    • Unsere Grundsätze und Strategie
      • Übersicht
      • Auftrag, Vision und Werte
      • Strategischer Plan 2028
      • Auf dem Weg zu einer neuen Normalität
    • Führung und Management
      • Übersicht
      • Präsident António Campinos
      • Managementberatungsausschuss
    • Sustainability at the EPO
      • Übersicht
      • Environmental
      • Social
      • Governance and Financial sustainability
    • Dienste & Aktivitäten
      • Übersicht
      • Unsere Dienste & Struktur
      • Qualität
      • Nutzerkonsultation
      • Europäische und internationale Zusammenarbeit
      • Europäische Patentakademie
      • Ombudsstelle
      • Meldung von Fehlverhalten
    • Beobachtungsstelle für Patente und Technologie
      • Übersicht
      • Technologien
      • Akteure im Innovationsbereich
      • Politisches Umfeld und Finanzierung
      • Tools
      • Über die Beobachtungsstelle
    • Beschaffung
      • Übersicht
      • Beschaffungsprognose
      • Das EPA als Geschäftspartner
      • Beschaffungsverfahren
      • Nachhaltiger Beschaffungsstandard
      • Registrierung zum eTendering und elektronische Signaturen
      • Beschaffungsportal
      • Rechnungsstellung
      • Allgemeine Bedingungen
      • Archivierte Ausschreibungen
    • Transparenzportal
      • Übersicht
      • Allgemein
      • Humankapital
      • Umweltkapital
      • Organisationskapital
      • Sozial- und Beziehungskapital
      • Wirtschaftskapital
      • Governance
    • Statistics and trends
      • Übersicht
      • Statistics & Trends Centre
      • Patent Index 2024
      • EPO Data Hub
      • Clarification on data sources
    • Die Geschichte des EPA
      • Übersicht
      • 1970er-Jahre
      • 1980er-Jahre
      • 1990er-Jahre
      • 2000er-Jahre
      • 2010er-Jahre
      • 2020er Jahre
    • Die EPA Kunstsammlung
      • Übersicht
      • Die Sammlung
      • Let's talk about art
      • Künstler
      • Mediathek
      • What's on
      • Publikationen
      • Kontakt
      • Kulturraum A&T 5-10
      • "Lange Nacht"
    Bild
    Patent Index 2024 keyvisual showing brightly lit up data chip, tinted in purple, bright blue

    Verfolgen Sie die neuesten Technologietrends mit unserem Patentindex

 
en de fr
  • Language selection
  • English
  • Deutsch
  • Français
Main navigation
  • Homepage
    • Go back
    • Sind Patente Neuland für Sie?
  • Sind Patente Neuland für Sie?
    • Go back
    • Übersicht
    • Patente für Ihr Unternehmen?
    • Warum ein Patent?
    • Was ist Ihre zündende Idee?
    • Sind Sie bereit?
    • Darum geht es
    • Der Weg zum Patent
    • Ist es patentierbar?
    • Ist Ihnen jemand zuvorgekommen?
    • Patentquiz
    • Video zum Einheitspatent
  • Patentrecherche
    • Go back
    • Übersicht
    • Technische Information
      • Go back
      • Übersicht
      • Espacenet - Patentsuche
        • Go back
        • Übersicht
        • Datenbanken der nationalen Ämter
        • Global Patent Index (GPI)
        • Versionshinweise
      • Europäischer Publikationsserver
        • Go back
        • Übersicht
        • Versionshinweise
        • Konkordanzliste für Euro-PCT-Anmeldungen
        • EP-Normdatei
        • Hilfe
      • EP-Volltextrecherche
    • Rechtliche Information
      • Go back
      • Übersicht
      • Europäisches Patentregister
        • Go back
        • Übersicht
        • Versionshinweise: Archiv
        • Dokumentation zu Register
          • Go back
          • Übersicht
          • Datenverfügbarkeit für Deep Links
          • Vereinigtes Register
          • Ereignisse im Register
      • Europäisches Patentblatt
        • Go back
        • Übersicht
        • Patentblatt herunterladen
        • Recherche im Europäischen Patentblatt
        • Hilfe
      • European Case Law Identifier Sitemap
      • Einwendungen Dritter
    • Geschäftsinformationen
      • Go back
      • Übersicht
      • PATSTAT
      • IPscore
        • Go back
        • Versionshinweise
      • Technologieanalyseberichte
    • Daten
      • Go back
      • Übersicht
      • Technology Intelligence Platform
      • Linked open EP data
      • Massendatensätze
        • Go back
        • Übersicht
        • Manuals
        • Sequenzprotokolle
        • Nationale Volltextdaten
        • Daten des Europäischen Patentregisters
        • Weltweite bibliografische Daten des EPA (DOCDB)
        • EP-Volltextdaten
        • Weltweite Rechtsereignisdaten des EPA (INPADOC)
        • Bibliografische Daten von EP-Dokumenten (EBD)
        • Entscheidungen der Beschwerdekammern des EPA
      • Web-Dienste
        • Go back
        • Übersicht
        • Open Patent Services (OPS)
        • Europäischer Publikationsserver (Web-Dienst)
      • Datenbestände, Codes und Statistiken
        • Go back
        • Wöchentliche Aktualisierungen
        • Regelmäßige Aktualisierungen
    • Technologieplattformen
      • Go back
      • Quantentechnologie
        • Go back
        • Kommunikation
        • Computing
        • Sensortechnik
      • Übersicht
      • Digitalisierung in der Landwirtschaft
        • Go back
        • Overview
        • Nutzpflanzenanbau
        • Künstliche Wachstumsbedingungen
        • Nutztierhaltung
        • Unterstützende Technologien
      • Kunststoffe im Wandel
        • Go back
        • Overview
        • Verwertung von Plastikabfällen
        • Recycling von Plastikabfällen
        • Alternative Kunststoffe
      • Innovative Wassertechnologien
        • Go back
        • Overview
        • Sauberes Wasser
        • Schutz vor Wasser
      • Innovationen im Weltraumsektor
        • Go back
        • Übersicht
        • Kosmonautik
        • Weltraumbeobachtung
      • Technologien zur Bekämpfung von Krebs
        • Go back
        • Übersicht
        • Prävention und Früherkennung
        • Diagnostik
        • Therapien
        • Wohlergehen und Nachsorge
      • Technologien zur Brandbekämpfung
        • Go back
        • Übersicht
        • Branderkennung und -verhütung
        • Feuerlöschen
        • Schutzausrüstung
        • Technologien für die Sanierung nach Bränden
      • Saubere Energietechnologien
        • Go back
        • Übersicht
        • Erneuerbare Energien
        • CO2-intensive Industrien
        • Energiespeicherung und andere Enabling-Technologien
      • Kampf gegen Corona
        • Go back
        • Übersicht
        • Impfstoffe und Therapeutika
          • Go back
          • Übersicht
          • Impfstoffe
          • Übersicht über Therapieansätze für COVID-19
          • Kandidaten für antivirale Therapeutika
          • Nukleinsäuren zur Behandlung von Coronavirus-Infektionen
        • Diagnose und Analyse
          • Go back
          • Übersicht
          • Protein-und Nukleinsäure-Nachweis
          • Analyseprotokolle
        • Informatik
          • Go back
          • Übersicht
          • Bioinformatik
          • Medizinische Informatik
        • Technologien für die neue Normalität
          • Go back
          • Übersicht
          • Geräte, Materialien und Ausrüstung
          • Verfahren, Maßnahmen und Aktivitäten
          • Digitale Technologien
        • Erfinderinnen und Erfinder gegen das Coronavirus
    • Nützliche Informationsquellen
      • Go back
      • Übersicht
      • Zum ersten Mal hier? Was ist Patentinformation?
        • Go back
        • Übersicht
        • Grundlegende Definitionen
        • Patentklassifikation
          • Go back
          • Übersicht
          • Gemeinsame Patentklassifikation
        • Patentfamilien
          • Go back
          • Übersicht
          • Einfache DOCDB Patentfamilie
          • Erweiterte INPADOC Patentfamilie
        • Daten zu Rechtsstandsereignissen
          • Go back
          • Übersicht
          • INPADOC-Klassifikationssystem
      • Patentinformation aus Asien
        • Go back
        • Übersicht
        • China (CN)
          • Go back
          • Übersicht
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Chinesisch-Taipei (TW)
          • Go back
          • Übersicht
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Indien (IN)
          • Go back
          • Übersicht
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
        • Japan (JP)
          • Go back
          • Übersicht
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Korea (KR)
          • Go back
          • Übersicht
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Useful links
      • Patentinformationszentren (PATLIB)
      • Patent Translate
      • Patent Knowledge News
      • Wirtschaft und Statistik
      • Patentinformationen rund um den einheitlichen Patentschutz
  • Anmelden eines Patents
    • Go back
    • Übersicht
    • Europäischer Weg
      • Go back
      • Übersicht
      • Leitfaden zum europäischen Patent
      • Einsprüche
      • Mündliche Verhandlung
        • Go back
        • Kalender der mündlichen Verhandlungen
          • Go back
          • Kalender der mündlichen Verhandlungen
          • Technische Richtlinien
          • Zugang für die Öffentlichkeit zum Beschwerdeverfahren
          • Zugang für die Öffentlichkeit zum Einspruchsverfahren
      • Beschwerden
      • Einheitspatent & Einheitliches Patentgericht
        • Go back
        • Einheitspatent
          • Go back
          • Übersicht
          • Rechtlicher Rahmen
          • Wesentliche Merkmale
          • Beantragung eines Einheitspatents
          • Kosten eines Einheitspatents
          • Übersetzungsregelungen und Kompensationssystem
          • Starttermin
          • Introductory brochures
        • Übersicht
        • Einheitliches Patentgericht
      • Nationale Validierung
      • Erstreckungs- /Validierungsantrag
    • Internationaler Weg
      • Go back
      • Übersicht
      • Euro-PCT-Leitfaden
      • Eintritt in die europäische Phase
      • Beschlüsse und Mitteilungen
      • PCT-Bestimmungen und Informationsquellen
      • Erstreckungs-/Validierungsantrag
      • Programm für verstärkte Partnerschaft
      • Beschleunigung Ihrer PCT-Anmeldung
      • Patent Prosecution Highway (PPH)
        • Go back
        • Programm "Patent Prosecution Highway" (PPH) - Übersicht
      • PCT: Schulungen und Veranstaltungen
    • Nationaler Weg
    • MyEPO Services
      • Go back
      • Übersicht
      • Unsere Dienste verstehen
        • Go back
        • Übersicht
        • Exchange data with us using an API
          • Go back
          • Versionshinweise
      • Zugriff erhalten
        • Go back
        • Übersicht
        • Versionshinweise
      • Bei uns einreichen
        • Go back
        • Bei uns einreichen
        • Wenn unsere Dienste für die Online-Einreichung ausfallen
        • Versionshinweise
      • Akten interaktiv bearbeiten
        • Go back
        • Versionshinweise
      • Verfügbarkeit der Online-Dienste
    • Gebühren
      • Go back
      • Übersicht
      • Europäische Gebühren (EPÜ)
        • Go back
        • Übersicht
        • Beschlüsse und Mitteilungen
      • Internationale Gebühren (PCT)
        • Go back
        • Ermäßigung der Gebühren
        • Gebühren für internationale Anmeldungen
        • Beschlüsse und Mitteilungen
        • Übersicht
      • Einheitspatentgebühren (UP)
        • Go back
        • Übersicht
        • Beschlüsse und Mitteilungen
      • Gebührenzahlung und Rückerstattung
        • Go back
        • Übersicht
        • Zahlungsarten
        • Erste Schritte
        • FAQs und sonstige Anleitungen
        • Technische Informationen für Sammelzahlungen
        • Beschlüsse und Mitteilungen
        • Versionshinweise
      • Warnung
      • Fee Assistant
      • Gebührenermäßigungen und Kompensation
        • Go back
        • Fee support scheme insights
    • Formblätter
      • Go back
      • Prüfungsantrag
      • Übersicht
    • Zugelassenen Vertreter suchen
  • Recht & Praxis
    • Go back
    • Übersicht
    • Rechtstexte
      • Go back
      • Übersicht
      • Europäisches Patentübereinkommen
        • Go back
        • Übersicht
        • Archiv
          • Go back
          • Übersicht
          • Dokumentation zur EPÜ-Revision 2000
            • Go back
            • Übersicht
            • Diplomatische Konferenz für die Revision des EPÜ
            • "Travaux préparatoires" (Vorarbeiten)
            • Neufassung
            • Übergangsbestimmungen
            • Ausführungsordnung zum EPÜ 2000
            • Gebührenordnung
            • Ratifikationen und Beitritte
          • Travaux Préparatoires EPÜ 1973
      • Amtsblatt
      • Richtlinien
        • Go back
        • Übersicht
        • EPÜ Richtlinien
        • PCT-EPA Richtlinien
        • Richtlinien für das Einheitspatent
        • Überarbeitung der Richtlinien
        • Ergebnisse der Konsultation
        • Zusammenfassung der Nutzerbeiträge
        • Archiv
      • Erstreckungs-/Validierungssystem
      • Londoner Übereinkommen
      • Nationales Recht zum EPÜ
        • Go back
        • Übersicht
        • Archiv
      • Einheitspatentsystem
        • Go back
        • Travaux préparatoires to UP and UPC
      • Nationale Maßnahmen zum Einheitspatent
      • Internationale Verträge
    • Gerichtspraxis
      • Go back
      • Übersicht
      • Symposium europäischer Patentrichter
    • Nutzerbefragungen
      • Go back
      • Übersicht
      • Laufende Befragungen
      • Abgeschlossene Befragungen
    • Harmonisierung des materiellen Patentrechts
      • Go back
      • Übersicht
      • The Tegernsee process
      • Gruppe B+
    • Konvergenz der Verfahren
    • Optionen für Vertreter
  • Neues & Veranstaltungen
    • Go back
    • Übersicht
    • News
    • Veranstaltungen
    • Europäischer Erfinderpreis
      • Go back
      • Übersicht
      • Über den Preis
      • Kategorien und Preise
      • Lernen Sie die Erfinder kennen
      • Nominierungen
      • Europäisches Erfindernetzwerk
        • Go back
        • Overview
        • 2026 activities
        • 2025 activities
        • 2024 activities
        • Regeln und Kriterien
        • FAQ
      • Preisverleihung 2024
    • Young Inventors Prize
      • Go back
      • Übersicht
      • Über den Preis
      • Nominierungen
      • Die Welt, neu gedacht
      • Preisverleihung 2025
    • Pressezentrum
      • Go back
      • Übersicht
      • Patent Index und Statistiken
      • Pressezentrum durchsuchen
      • Hintergrundinformation
        • Go back
        • Übersicht
        • Europäisches Patentamt
        • Fragen und Antworten zu Patenten im Zusammenhang mit dem Coronavirus
        • Fragen und Antworten zu Pflanzenpatenten
      • Copyright
      • Pressekontakt
      • Rückruf Formular
      • Presseinfos per Mail
    • Im Blickpunkt
      • Go back
      • Übersicht
      • CodeFest
        • Go back
        • Codefest 2026 zum Thema "Patente und IP-Portfolio aus-/bewerten"
        • Codefest Frühjahr 2025 zur Klassifizierung von Patentdaten für nachhaltige Entwicklung
        • Übersicht
        • CodeFest 2024 zu generativer KI
        • Codefest 2023 zu grünen Kunststoffen
      • Green tech in focus
        • Go back
        • Übersicht
        • About green tech
        • Renewable energies
        • Energy transition technologies
        • Building a greener future
      • Forschungseinrichtungen
      • Lifestyle
      • Raumfahrt und Satelliten
        • Go back
        • Weltraumtechnologie und Patente
        • Übersicht
      • Gesundheit
        • Go back
        • Übersicht
        • Medizintechnik und Krebs
        • Die Zukunft der Medizin: personalisierte Medizin
      • Werkstoffkunde
        • Go back
        • Übersicht
        • Nanotechnologie
      • Mobile Kommunikation
      • Biotechnologie
        • Go back
        • Rot, weiß oder grün
        • Übersicht
        • Die Rolle des EPA
        • Was ist patentierbar?
        • Biotechnologische Erfindungen und ihre Erfinder
      • Patentklassifikation
        • Go back
        • Übersicht
        • Nanotechnology
        • Climate change mitigation technologies
          • Go back
          • Übersicht
          • External partners
          • Updates on Y02 and Y04S
      • Digitale Technologien
        • Go back
        • Übersicht
        • Über IKT
        • Hardware und Software
        • Künstliche Intelligenz
        • Vierte Industrielle Revolution
      • Additive Fertigung
        • Go back
        • Übersicht
        • Die additive Fertigung
        • Innovation durch AM
      • Books by EPO experts
    • Podcast
  • Lernen
    • Go back
    • Übersicht
    • Schulungsaktivitäten und Lernpfade
      • Go back
      • Übersicht
      • Schulungsaktivitäten: Arten und Formate
      • Lernpfade
    • EEP und EPVZ
      • Go back
      • Übersicht
      • EEP – Europäische Eignungsprüfung
        • Go back
        • Übersicht
        • Compendium
          • Go back
          • Übersicht
          • Aufgabe F
          • Aufgabe A
          • Aufgabe B
          • Aufgabe C
          • Aufgabe D
          • Vorprüfung
        • Erfolgreiche Bewerber
        • Archiv
      • EPVZ – Europäisches Patentverwaltungszertifikat
      • CSP – Programm zur Unterstützung von Bewerbern
    • Angebot für bestimmte Interessengebiete
      • Go back
      • Übersicht
      • Patenterteilung
      • Technologietransfer und -verbreitung
      • Patentdurchsetzung und Streitregelung
    • Angebot für bestimmte Zielgruppen
      • Go back
      • Übersicht
      • Geschäftswelt und IP
        • Go back
        • Übersicht
        • Innovation case studies
          • Go back
          • Overview
          • SME case studies
          • Fallstudien zum Technologietransfer
          • Fallstudien zu wachstumsstarken Technologien
        • Inventor's handbook
          • Go back
          • Übersicht
          • Introduction
          • Disclosure and confidentiality
          • Novelty and prior art
          • Competition and market potential
          • Assessing the risk ahead
          • Proving the invention
          • Protecting your idea
          • Building a team and seeking funding
          • Business planning
          • Finding and approaching companies
          • Dealing with companies
        • Best of search matters
          • Go back
          • Übersicht
          • Tools and databases
          • EPO procedures and initiatives
          • Search strategies
          • Challenges and specific topics
        • Support for high-growth technology businesses
          • Go back
          • Übersicht
          • Business decision-makers
          • IP professionals
          • Stakeholders of the Innovation Ecosystem
      • EEP und EPVZ Bewerber
        • Go back
        • Übersicht
        • Denkaufgaben zu Aufgabe F
        • Europäische Eignungsprüfung - Leitfaden zur Vorbereitung
        • EPVZ
      • Richter, Anwälte und Staatsanwälte
        • Go back
        • Übersicht
        • Compulsory licensing in Europe
        • Die Zuständigkeit europäischer Gerichte bei Patentstreitigkeiten
      • Nationale Ämter und IP-Behörden
        • Go back
        • Übersicht
        • Lernpfad für Patentprüfer der nationalen Ämter
        • Lernpfad für Formalsachbearbeiter und Paralegals
      • Patentanwaltskanzleien
      • Hochschulen, Forschungseinrichtungen und Technologietransferstellen
        • Go back
        • Übersicht
        • Modularer IP-Ausbildungsrahmen (MIPEF)
        • Programm "Pan-European-Seal für junge Fachkräfte"
          • Go back
          • Übersicht
          • Für Hochschulen
            • Go back
            • Übersicht
            • IP-Schulungsressourcen
            • Teilnehmende Hochschulen
        • IP Teaching Kit
          • Go back
          • Übersicht
          • Download modules
        • Handbuch für die Gestaltung von IP-Kursen
        • PATLIB Wissenstransfer nach Afrika
          • Go back
          • Kernaktivitäten
          • Geschichten und Einblicke
  • Über uns
    • Go back
    • Übersicht
    • Das EPA auf einen Blick
    • 50 Jahre EPÜ
      • Go back
      • Official celebrations
      • Übersicht
      • Member states’ video statements
        • Go back
        • Albania
        • Austria
        • Belgium
        • Bulgaria
        • Croatia
        • Cyprus
        • Czech Republic
        • Denmark
        • Estonia
        • Finland
        • France
        • Germany
        • Greece
        • Hungary
        • Iceland
        • Ireland
        • Italy
        • Latvia
        • Liechtenstein
        • Lithuania
        • Luxembourg
        • Malta
        • Monaco
        • Montenegro
        • Netherlands
        • North Macedonia
        • Norway
        • Poland
        • Portugal
        • Romania
        • San Marino
        • Serbia
        • Slovakia
        • Slovenia
        • Spain
        • Sweden
        • Switzerland
        • Türkiye
        • United Kingdom
      • 50 Leading Tech Voices
      • Athens Marathon
      • Kinderwettbewerb für kollektive Kunst
    • Rechtsgrundlagen und Mitgliedstaaten
      • Go back
      • Übersicht
      • Rechtsgrundlagen
      • Mitgliedstaaten
        • Go back
        • Übersicht
        • Mitgliedstaaten sortiert nach Beitrittsdatum
      • Erstreckungsstaaten
      • Validierungsstaaten
    • Verwaltungsrat und nachgeordnete Organe
      • Go back
      • Übersicht
      • Kommuniqués
        • Go back
        • 2024
        • Übersicht
        • 2023
        • 2022
        • 2021
        • 2020
        • 2019
        • 2018
        • 2017
        • 2016
        • 2015
        • 2014
        • 2013
      • Kalender
      • Dokumente und Veröffentlichungen
      • Verwaltungsrat
        • Go back
        • Übersicht
        • Zusammensetzung
        • Vertreter
        • Geschäftsordnung
        • Kollegium der Rechnungsprüfer
        • Sekretariat
        • Nachgeordnete Organe
    • Grundsätze
      • Go back
      • Übersicht
      • Auftrag, Vision und Werte
      • Strategieplan 2028
        • Go back
        • Treiber 1: Personal
        • Treiber 2: Technologien
        • Treiber 3: Qualitativ hochwertige Produkte und Dienstleistungen
        • Treiber 4: Partnerschaften
        • Treiber 5: Finanzielle Nachhaltigkeit
      • Auf dem Weg zu einer neuen Normalität
      • Datenschutzerklärung
    • Führung und Management
      • Go back
      • Übersicht
      • Über den Präsidenten
      • Managementberatungsausschuss
    • Nachhaltigkeit beim EPA
      • Go back
      • Overview
      • Umwelt
        • Go back
        • Overview
        • Inspirierende Erfindungen für die Umwelt
      • Soziales
        • Go back
        • Overview
        • Inspirierende soziale Erfindungen
      • Governance und finanzielle Nachhaltigkeit
        • Go back
        • Integriertes Management beim EPA
    • Beschaffung
      • Go back
      • Übersicht
      • Beschaffungsprognose
      • Das EPA als Geschäftspartner
      • Beschaffungsverfahren
      • Veröffentlichungen des Dynamischen Beschaffungssystems
      • Nachhaltiger Beschaffungsstandard
      • Über eTendering
      • Rechnungsstellung
      • Beschaffungsportal
        • Go back
        • Übersicht
        • Elektronische Signatur von Verträgen
      • Allgemeine Bedingungen
      • Archivierte Ausschreibungen
    • Dienste & Aktivitäten
      • Go back
      • Übersicht
      • Unsere Dienste & Struktur
      • Qualität
        • Go back
        • Übersicht
        • Grundlagen
          • Go back
          • Übersicht
          • Europäisches Patentübereinkommen
          • Richtlinien für die Prüfung
          • Unsere Bediensteten
        • Qualität ermöglichen
          • Go back
          • Übersicht
          • Stand der Technik
          • Klassifikationssystem
          • Tools
          • Qualitätssicherung
        • Produkte & Dienstleistungen
          • Go back
          • Übersicht
          • Recherche
          • Prüfung
          • Einspruch
          • Fortlaufende Verbesserung
        • Qualität durch Netzwerke
          • Go back
          • Übersicht
          • Nutzerengagement
          • Zusammenarbeit
          • Befragung zur Nutzerzufriedenheit
          • Stakeholder-Qualitätssicherungspanels
        • Charta für Patentqualität
        • Qualitätsaktionsplan
        • Qualitäts-Dashboard
        • Statistik
          • Go back
          • Übersicht
          • Recherche
          • Prüfung
          • Einspruch
      • Charta unserer Kundenbetreuung
      • Nutzerkonsultation
        • Go back
        • Übersicht
        • Ständiger Beratender Ausschuss beim EPA
          • Go back
          • Übersicht
          • Ziele
          • Der SACEPO und seine Arbeitsgruppen
          • Sitzungen
          • Bereich für Delegierte
        • Befragungen
          • Go back
          • Übersicht
          • Methodik
          • Recherche
          • Sachprüfung, abschließende Aktionen und Veröffentlichung
          • Einspruch
          • Formalprüfung
          • Kundenbetreuung
          • Einreichung
          • Key Account Management (KAM)
          • EPA-Website
          • Archiv
      • Europäische und internationale Zusammenarbeit
        • Go back
        • Übersicht
        • Zusammenarbeit mit den Mitgliedstaaten
          • Go back
          • Übersicht
        • Bilaterale Zusammenarbeit mit Nichtmitgliedstaaten
          • Go back
          • Übersicht
          • Validierungssystem
          • Programm für verstärkte Partnerschaft
        • Internationale Organisationen, Trilaterale und IP5
        • Zusammenarbeit mit internationalen Organisationen außerhalb des IP-Systems
      • Europäische Patentakademie
        • Go back
        • Übersicht
        • Partner
      • Ombudsstelle
      • Meldung von Fehlverhalten
    • Beobachtungsstelle für Patente und Technologie
      • Go back
      • Übersicht
      • Technologien
        • Go back
        • Übersicht
        • Innovation gegen Krebs
        • Assistenzrobotik
        • Enabling-Technologien für den Energiesektor
          • Go back
          • Übersicht
          • Publikationen
        • Technologien zur Energieerzeugung
        • Wassertechnologien
        • Kunststoffe im Wandel
        • Weltraumtechnologien
        • Digitalisierung in der Landwirtschaft
        • Quantentechnologien
      • Akteure im Innovationsbereich
        • Go back
        • Übersicht
        • Start-ups und KMU
          • Go back
          • Übersicht
          • Publikationen
          • Veranstaltungen
        • Forschungshochschulen und öffentliche Forschungseinrichtungen
        • Erfinderinnen
      • Politisches Umfeld und Finanzierung
        • Go back
        • Übersicht
        • Programm zur Innovationsfinanzierung
          • Go back
          • Übersicht
          • Unsere Studien zur Innovationsfinanzierung
          • EPA-Initiativen für Patentanmelder/innen
          • Programm zur Innovationsfinanzierung
        • Patente und Normen
          • Go back
          • Übersicht
          • Publikationen
          • Patent standards explorer
      • Tools der Beobachtungsstelle
        • Go back
        • Overview
        • Deep Tech Finder
        • Digitale Bibliothek für Innovation
          • Go back
          • Overview
          • Leisten Sie einen Beitrag zur Digitalen Bibliothek
      • Über die Beobachtungsstelle
        • Go back
        • Übersicht
        • Arbeitsplan
        • Chefökonom
          • Go back
          • Overview
          • Wirtschaftliche Studien
          • Akademisches Forschungsprogramm
            • Go back
            • Übersicht
            • Laufende Forschungsprojekte
            • Abgeschlossene Forschungsprojekte
        • Zusammenarbeit mit europäischen Akteuren
    • Transparency portal
      • Go back
      • Übersicht
      • Allgemein
        • Go back
        • Übersicht
        • Jahresrückblick 2024
          • Go back
          • Overview
          • Zusammenfassung
          • Treiber 1 – Personal
          • Treiber 2 – Technologien
          • Treiber 3 – Qualitativ hochwertige, pünktliche Produkte und Dienstleistungen
          • Treiber 4 – Partnerschaften
          • Treiber 5 – Finanzielle Nachhaltigkeit
        • Annual Review 2023
          • Go back
          • Overview
          • Foreword
          • Executive summary
          • 50 years of the EPC
          • Strategic key performance indicators
          • Goal 1: Engaged and empowered
          • Goal 2: Digital transformation
          • Goal 3: Master quality
          • Goal 4: Partner for positive impact
          • Goal 5: Secure sustainability
        • Annual Review 2022
          • Go back
          • Übersicht
          • Foreword
          • Executive summary
          • Goal 1: Engaged and empowered
          • Goal 2: Digital transformation
          • Goal 3: Master quality
          • Goal 4: Partner for positive impact
          • Goal 5: Secure sustainability
      • Humankapital
      • Umweltkapital
      • Organisationskapital
      • Sozial- und Beziehungskapital
      • Wirtschaftskapital
      • Governance
    • Statistics and trends
      • Go back
      • Übersicht
      • Statistics & Trends Centre
      • Patent Index 2024
        • Go back
        • Insight into computer technology and AI
        • Insight into clean energy technologies
        • Statistics and indicators
          • Go back
          • European patent applications
            • Go back
            • Key trend
            • Origin
            • Top 10 technical fields
              • Go back
              • Computer technology
              • Electrical machinery, apparatus, energy
              • Digital communication
              • Medical technology
              • Transport
              • Measurement
              • Biotechnology
              • Pharmaceuticals
              • Other special machines
              • Organic fine chemistry
            • All technical fields
          • Applicants
            • Go back
            • Top 50
            • Categories
            • Women inventors
          • Granted patents
            • Go back
            • Key trend
            • Origin
            • Designations
      • Data to download
      • EPO Data Hub
      • Clarification on data sources
    • Geschichte
      • Go back
      • Übersicht
      • 1970er-Jahre
      • 1980er-Jahre
      • 1990er-Jahre
      • 2000er-Jahre
      • 2010er-Jahre
      • 2020er Jahre
    • Kunstsammlung
      • Go back
      • Übersicht
      • Die Sammlung
      • Let's talk about art
      • Künstler
      • Mediathek
      • What's on
      • Publikationen
      • Kontakt
      • Kulturraum A&T 5-10
        • Go back
        • Overview
        • Catalyst lab & Deep vision
          • Go back
          • Overview
          • Irene Sauter (DE)
          • AVPD (DK)
          • Jan Robert Leegte (NL)
          • Jānis Dzirnieks (LV) #1
          • Jānis Dzirnieks (LV) #2
          • Péter Szalay (HU)
          • Thomas Feuerstein (AT)
          • Tom Burr (US)
          • Wolfgang Tillmans (DE)
          • TerraPort
          • Unfinished Sculpture - Captives #1
          • Deep vision – immersive exhibition
          • Frühere Ausstellungen
        • The European Patent Journey
        • Sustaining life. Art in the climate emergency
        • Next generation statements
        • Open storage
        • Cosmic bar
      • "Lange Nacht"
  • Beschwerdekammern
    • Go back
    • Übersicht
    • Entscheidungen der Beschwerdekammern
      • Go back
      • Neue Entscheidungen
      • Übersicht
      • Ausgewählte Entscheidungen
    • Mitteilungen der Beschwerdekammern
    • Verfahren
    • Mündliche Verhandlungen
    • Über die Beschwerdekammern
      • Go back
      • Übersicht
      • Präsident der Beschwerdekammern
      • Große Beschwerdekammer
        • Go back
        • Übersicht
        • Pending referrals (Art. 112 EPC)
        • Decisions and opinions (Art. 112 EPC)
        • Pending petitions for review (Art. 112a EPC)
        • Decisions on petitions for review (Art. 112a EPC)
      • Technische Beschwerdekammern
      • Juristische Beschwerdekammer
      • Beschwerdekammer in Disziplinarangelegenheiten
      • Präsidium
        • Go back
        • Übersicht
    • Verhaltenskodex
    • Geschäftsverteilungsplan
      • Go back
      • Übersicht
      • Technical boards of appeal by IPC in 2026
      • Archiv
    • Jährliche Liste der Verfahren
    • Mitteilungen
    • Jahresberichte
      • Go back
      • Übersicht
    • Veröffentlichungen
      • Go back
      • Abstracts of decisions
    • Rechtsprechung der Beschwerdekammern
      • Go back
      • Übersicht
      • Archiv
    • Diversity and Inclusion
  • Service & Unterstützung
    • Go back
    • Übersicht
    • Aktualisierungen der Website
    • Verfügbarkeit der Online-Dienste
      • Go back
      • Übersicht
    • FAQ
      • Go back
      • Übersicht
    • Veröffentlichungen
    • Bestellung
      • Go back
      • Patentinformationsprodukte
      • Übersicht
      • Allgemeine Geschäftsbedingungen
        • Go back
        • Übersicht
        • Patentinformationsprodukte
        • Massendatensätze
        • Open Patent Services (OPS)
        • Leitfaden zur fairen Nutzung
    • Verfahrensbezogene Mitteilungen
    • Nützliche Links
      • Go back
      • Übersicht
      • Patentämter der Mitgliedstaaten
      • Weitere Patentämter
      • Verzeichnisse von Patentvertretern
      • Patentdatenbanken, Register und Patentblätter
      • Haftungsausschluss
    • Aboverwaltung
      • Go back
      • Übersicht
      • Anmelden
      • Einstellungen verwalten
      • Abmelden
    • Veröffentlichungen
      • Go back
      • Übersicht
      • Möglichkeiten der Einreichung
      • Standorte
    • Offizielle Feiertage
    • Glossar
    • RSS-Feeds
Board of Appeals
Decisions

Recent decisions

Übersicht
  • 2026 decisions
  • 2025 decisions
  • 2024 decisions
  1. Startseite
  2. T 0223/90 11-02-1992
Facebook X Linkedin Email

T 0223/90 11-02-1992

Europäischer Rechtsprechungsidentifikator
ECLI:EP:BA:1992:T022390.19920211
Datum der Entscheidung:
11 February 1992
Aktenzeichen
T 0223/90
Antrag auf Überprüfung von
-
Anmeldenummer
84104991.9
IPC-Klasse
B23B 27/16
Verfahrenssprache
DE
Verteilung
-

Download und weitere Informationen:

Entscheidung in DE 706.41 KB
Alle Dokumente zum Beschwerdeverfahren finden Sie im Europäisches Patentregister
Bibliografische Daten verfügbar in:
DE
Fassungen
Nicht veröffentlicht
Bezeichnung der Anmeldung

Schneideinsatz für ein Zerspanungswerkzeug

Name des Anmelders
Metallwerk Plansee Gesellschaf
Name des Einsprechenden

1) Krupp Widia GmbH

2) Sandvik Aktiebolag

Kammer
3.2.04
Leitsatz
-
Relevante Rechtsnormen
European Patent Convention Art 56 1973
Schlagwörter

Combination of features - inventive step (yes)

Merkmalskombination - erfinderische Tätigkeit (ja)

Orientierungssatz
-
Angeführte Entscheidungen
T 0020/85
T 0037/85
Anführungen in anderen Entscheidungen
-

I. Auf den Gegenstand - ein Schneideinsatz für ein Zerspanungswerkzeug - der am 3. Mai 1984 angemeldeten europäischen Patentanmeldung Nr. 84 104 991.9 ist am 12. August 1987 das vier Ansprüche umfassende europäische Patent Nr. 125 568 erteilt worden.

Der Anspruch 1 des erteilten Patents lautet:

"Schneideinsatz mit mindestens einer Schneidecke (4), von der aus sich je zwei Schneidkanten (3) mit daran angrenzenden Spanleitstufen (7) erstrecken, bei dem die Schneidkanten (3) von der Schneidecke (4) zur Schneidkantenmitte hin zumindest im Bereich der Schneidecke (4) unter einem Neigungswinkel 5 15° aufweist und im abfallenden Schneidkantenabschnitt (3a) von der Schneidecke (4) zur Schneidkantenmitte hin in ihrer Breite zunimmt und die abfallenden Flanken (7a, 7b) jeder Spanleitstufe (7) mit einem Winkel ß1, ß2 > 130° an einen gegenüber den Schneidkanten (3) abgesenkten Mittelteil (6) des Schneideinsatzes angrenzen."

II. Gegen das Patent sind von den Beschwerdegegnern (Einsprechender 01 und 02) Einsprüche eingelegt worden mit dem Antrag, das Patent zu widerrufen, da dessen Gegenstand nicht neu sei oder nicht auf einer erfinderischen Tätigkeit beruhe.

Die Begründung ist u. a. auf folgende Druckschriften

D4: DE-A-2 810 824,

D6: DE-C-2 529 526,

D10: US-A-4 340 324 und

D11: US-A-4 288 179

gestützt.

III. Mit der am 23. Januar 1990 zur Post gegebenen Entscheidung der Einspruchsabteilung ist das Patent widerrufen worden mit der Begründung, daß der Gegenstand des Anspruchs 1 des erteilten Patents und der Gegenstand des Anspruchs 1 gemäß dem Hilfsantrag vom 16. August 1989 mit Rücksicht auf die den Druckschriften D4 und D6 zu entnehmenden Lehren nicht auf einer erfinderischen Tätigkeit beruhen. Darüber hinaus werde durch das zusätzliche Merkmal im Anspruch 1 gemäß dem Hilfsantrag keine neue, unvorhersehbare Wirkung erreicht.

IV. Am 9. März 1990 hat der Beschwerdeführer (Patentinhaber) Beschwerde erhoben und die Gebühr bezahlt. Die Beschwerdebegründung ist am 22. Mai 1990 eingegangen.

V. Mit Schriftsätzen vom 20. September 1990 und 20. März 1991 hat der Beschwerdegegner erstmals folgende Druckschriften

D19: Valenite-Modco (N/P-5-1973): Negativ/positiv- Wendeschneidplatten, S. 4 und 5;

D20: Kennametal Catalog 77: Metalcutting tools for greater productivity, S. 12 und 14;

D21: WIDIA Wendeschneidplatten Typ 4, Fried. Krupp GmbH, Krupp Widia (1981);

D22: Kennametal Wendeschneidplatten und Lötplatten - 102 (1978), S. 16, 20 und 22 (Kenloc- Wendeschneidplatten), und

D23: GB-A-2 055 636 genannt.

VI. Eine mündliche Verhandlung hat am 11. Februar 1992 stattgefunden. Im Verlauf dieser Verhandlung hat der Beschwerdegegner 01 erstmals auf die Druckschrift D24: R. Kiefer und Benesovsky: Hartmetalle, 1965, Springer-Verlag, Wien, New York, S. 351 hingewiesen.

1. Alle Beteiligten waren sich darin einig, daß der Schneideinsatz nach der Druckschrift D4 bzw. D11 den Stand der Technik darstelle, der dem Gegenstand des Anspruchs 1 des erteilten Patents am nächsten komme.

2. Der Beschwerdeführer hat im wesentlichen vorgetragen, daß von den Merkmalen, in denen sich der Gegenstand des Anspruchs 1 von dem Schneideinsatz nach der Druckschrift D4 oder nach der dieser entsprechenden amerikanischen Druckschrift D11 unterscheide, jedes für sich bekannt sein möge, ihre Kombination jedoch miteinander und mit den restlichen aus der Druckschrift D4 bekannten Merkmalen durch den schriftlich belegten Stand der Technik nicht nahegelegen habe. Entsprechend der Lehre des Anspruchs 1 müssen alle die Bearbeitung eines Werkstücks beeinflussenden Elemente eines Schneideinsatzes derart aufeinander abgestimmt sein, um die dem Gegenstand des Anspruchs 1 zugrundeliegende Aufgabe zu lösen.

3. Nach Ansicht der Beschwerdegegner unterscheidet sich der Gegenstand des Anspruchs 1 des erteilten Patents von dem Schneideinsatz nach der Druckschrift D4 nur noch durch das Merkmal, daß die abfallende Flanke jeder Spanleitstufe im abfallenden Schneidkantenabschnitt von der Schneidecke zur Schneidkantenmitte hin in ihrer Breite zunimmt.

Die Druckschrift D4 offenbare nämlich auch mit einem Winkel von 4 bis 8° einen Neigungswinkel für die zur Schneidkantenmitte hin abfallenden Schneidkanten, der sich mit dem Neigungswinkel von 5 bis 20° gemäß dem Anspruch 1 überlappe und somit in diesen Bereich falle, sowie ein gegenüber den Schneidkanten abgesenktes Mittelteil, wie der Figur 4 in Verbindung mit Figur 1 und mit dem Anspruch 3 dieser Druckschrift für den Fachmann zu entnehmen sei. Außerdem sei ein Mittelteil vorhanden, an das aufgrund des genannten Spanwinkels von 15 bis 30° die Spanleitstufen mit einem Winkel, der größer sei als 130°, angrenzen, und das abgesenkt sei, da die Oberfläche der im Zentrum angeordneten Erhebung nach dem Anspruch 3 dieser Druckschrift tiefer liegen könne als der tiefste Punkt der Schneidkanten.

Der Fachmann wisse auch, wie eine Spanleitstufe ausgebildet sein müsse, so daß ihre Ausbildung gemäß dem Anspruch 1 des erteilten Patents für ihn auf der Hand liege. Im besonderen sei ihm die Verbreiterung der Spanleitstufe, dies auch im Zusammenhang mit einem abgesenkten Mittelteil, und die dadurch bedingten vorteilhaften Wirkungen geläufig, wie den Druckschriften D19 bis D23 entnommen werden könne.

Vor allem aber die Druckschriften D6 und D10 geben hierzu die entscheidenden Anregungen.

VII. Der Beschwerdeführer beantragte die Aufhebung der angefochtenen Entscheidung und die Aufrechterhaltung des Patents wie erteilt bzw. die Aufrechterhaltung des Patents mit den in der mündlichen Verhandlung überreichten Ansprüchen 1 und 4 sowie mit den erteilten Ansprüchen 2 und 3.

Die Beschwerdegegner beantragten die Zurückweisung der Beschwerde.

1. Die Beschwerde ist zulässig.

2. Neuheit

Ein Schneideinsatz nach dem Anspruch 1 des erteilten Patents ist durch keine der vorliegenden Druckschriften bekannt geworden. Da die Neuheit nicht bestritten worden ist, erübrigt es sich, hierfür eine Begründung zu geben.

3. Stand der Technik

Der Gegenstand des Anspruchs 1 betrifft einen Schneideinsatz, der als Zerspanungswerkzeug zur Bearbeitung von Aluminium, Molybdän und deren Legierungen, Kunststoffen und ähnlichen Materialien Verwendung findet.

3.1. Bekanntlich benötigen Schneideinsätze zum Bearbeiten von derartigen weichen Werkstoffen vergleichsweise große Spanwinkel (vgl. Druckschrift D24, Abschn.: "Am Werkzeug unterscheidet man folgende Winkel:"). Nachteilig ist dabei, daß sich durch das Einschleifen der Spanleitstufen der für die Bearbeitung erforderliche möglichst große positive Spanwinkel nur im Bereich der Hauptschneidkante erreichen läßt. Im Bereich der Schneidspitze des Schneideinsatzes wird der Spanwinkel immer kleiner bis auf 0° und steigt beim Übergang in die Nebenschneidkante sogar auf einen negativen Wert an. Diese Abnahme des positiven Spanwinkels an der Schneidspitze kann insbesondere beim Eingriff der Schneidkante bis in den Nebenschneidkantenbereich, was z. B. beim Kopierdrehen häufig auftritt, zu einem Aufreißen der bearbeiteten Oberfläche und damit zu unzureichenden Oberflächenqualitäten führen.

Darüber hinaus wird durch die, entsprechend bekannten Ausführungen, geraden und parallel zur Grundfläche verlaufenden Schneidkanten sowie durch die kleineren Übergangswinkel zwischen abfallenden und ansteigenden Spanleitstufenflanken, die in der Regel zwischen 90 bis 110° liegen, vielfach nur eine ungünstige Spanbildung erreicht. Die Gefahr einer Schneidkantenbeschädigung und einer sehr großen Aufbauschneidenbildung ist somit beträchtlich. Auch sind die Schnittkräfte im Bereich der Schneidecke sehr groß, so daß die Bruchgefahr in der Schneidecke besonders groß ist.

3.2. Die Druckschrift D4 (Ausführungsform gemäß Figur 1) bzw. die entsprechende amerikanische Druckschrift D11 betrifft einen Schneideinsatz mit Schneidkanten und Spanleitstufen, der tatsächlich dem Gegenstand des Anspruchs 1 des erteilten Patents am nächsten kommt (s. a. EP-B-0 125 568: S. 2, lk. Sp., Z. 45 bis 55).

3.2.1. Bei diesem bekannten Schneideinsatz fallen die Schneidkanten von der Schneidecke zur Schneidkantenmitte hin zumindest im Bereich der Schneidecke mit einem Neigungswinkel von 4 bis 8°, vorzugsweise 6°, ab, der sich somit mit dem im Anspruch 1 des erteilten Patents angegebenen Bereich von 5 bis 20° überschneidet.

Nach Bekundung des Beschwerdeführers kann sich jedoch der in der Druckschrift D4 angegebene Bereich bis zu einem Neigungswinkel von 10° erstrecken. Außerdem sind dem Fachmann die Wirkungen eines positiven Neigungswinkels in Abhängigkeit von dessen Größe hinsichtlich der Schnittwirkung, der Schnittkräfte sowie der Spanabflußrichtung und, mit letzterer verbunden, der Güte der bearbeiteten Werkstückoberfläche, geläufig (vgl. z. B. Druckschrift D4: S. 6, Z. 21 bis S. 7, Z. 2).

Es ist daher begründet, davon auszugehen, daß der Fachmann durch die Druckschrift D4 oder durch den vorliegenden, schriftlich belegten Stand der Technik nicht davon abgehalten wird, für den Neigungswinkel Werte im Überlappungsbereich (5 bis 8°) anzuwenden, und zwar dies um so mehr, als in der Druckschrift D4 (Anspruch 9; S. 6, Z. 23) angegeben ist, daß vorzugsweise ein Neigungswinkel von 6° benutzt wird. Gemäß der gängigen Rechtsprechung ist daher das Merkmal des Anspruchs 1 des erteilten Patents, daß der Neigungswinkel 5 bis 20° beträgt, ebenfalls durch den Stand der Technik nach der Druckschrift D4 abgedeckt (vgl. z. B. Entscheidung: "Dicke magnetische Schichten/ TOSHIBA", T 26/85, ABl. EPA 1990, 22, Abschn. 8 bis 9).

3.2.2. Die Spanleitstufen des bekannten Schneideinsatzes erstrecken sich kontinuierlich über die Eckenbereiche und zumindest über die angrenzenden Bereiche abfallender Schneidkantenabschnitte, wobei die abfallenden Flanken einen Spanwinkel von 15 bis 30° aufweisen. Die Breite der Spanleitstufen ist nur im Bereich der Schneidecken, also im Verschneidungsbereich der Spanleitstufen, gegenüber der konstanten Breite der Spanleitstufen in den abfallenden Schneidkantenabschnitten verringert. Diese im Verschneidungsbereich der Spanleitstufen zwangsläufig auftretende Verringerung der Breite der Spanleitstufen ist nicht mit der im Anspruch 1 des in Frage gestellten Patents definierten und gezielt gewollten Zunahme der Breite der abfallenden Flanke jeder Spanleitstufe im abfallenden Schneidkantenabschnitt von der Schneidecke zur Schneidkantenmitte hin vergleichbar.

3.2.3. Es sind auch Spanformelemente in Form einer Erhebung im gegenüber den Randzonen der Oberseite abgesenkten Zentrum sowie in Form von zwischen diesem Zentrum und den Schneidkanten liegenden Flächen vorgesehen. Das Zentrum und die Flächen bilden demnach das Mittelteil des Schneideinsatzes. Die Erhebung selbst, die als wesentlich angesehen wird (vgl. Ansprüche 1 bis 6), reicht jedoch im Bereich der Schneidkantenmitte in die abfallenden Flanken der Spanleitstufen. Aus diesem Grunde können die abfallenden Flanken sich nicht auf ihrer ganzen Länge mit einem Winkel von größer als 130° an das abgesenkte Zentrum anschließen (vgl. S. 6, Z. 1 bis 14 sowie Fig. 1 und 3).

3.2.4. Bei dem bekannten Schneideinsatz wird die Aufgabe gelöst, die Bruchsicherheit desselben zu verbessern, eine günstige Spanformung durch dessen Spanformelemente zu bewirken und die Schnittkräfte zu reduzieren. Dies wird durch das Zusammenwirken aller Elemente des bekannten Schneideinsatzes, nämlich Schneidkanten, Spanleitflächen und Spanformelemente, so wie sie in der Druckschrift D4 aufgeführt sind, erreicht. Hierbei kommt vor allem der Erhebung (Spanformelement) im Zentrum des Schneideinsatzes eine Bedeutung zu (s. S. 5, Z. 6 bis 25; Ansprüche 1 bis 6).

Wie von den Beteiligten mehrmals hervorgehoben worden ist, ist es von der Fachwelt unbestritten, daß bei solchen Schneideinsätzen nur das Zusammenwirken aller einzelnen Elemente zu dem gewünschten technischen Gesamterfolg führen kann. Daraus folgt, daß auch der bekannte Schneideinsatz nur als eine Kombination der ihn bildenden Elemente zu sehen ist.

3.2.5. Der Schneideinsatz gemäß der Druckschrift D4 eignet sich zur spanenden Bearbeitung von Eisenwerkstoffen, insbesondere von Stählen niedriger Festigkeit sowie hochlegierten und nichtrostenden Werkstoffen.

Nach Ansicht des Beschwerdeführers ist mit ihnen jedoch eine Bearbeitung von Aluminium, Molybdän, Kunststoffen und ähnlichen Materialien noch nicht möglich.

4. Aufgabe

Unter Berücksichtigung des Standes der Technik, der Beschreibung des in Frage gestellten Patents und des Vortrags des Beschwerdeführers ergibt sich als Aufgabe, den Schneideinsatz nach der Druckschrift D4 so weiter- zubilden, daß bei der Bearbeitung von Werkstücken aus Aluminium, Molybdän, Kunststoffen oder ähnlichen Materialien mit verringerten Schnittkräften eine optimale Spanbildung erzielt wird.

5. Lösung

5.1. Die Aufgabe wird gemäß der Lehre des Anspruchs 1 des erteilten Patents durch die aus der Druckschrift D4 bekannten, die Schnittkanten und Spanleitstufen betreffenden Merkmale, so wie diese in den obigen Abschnitten 3.2.1 und 3.2.2 angegeben sind, in Verbindung mit den Merkmalen,

- daß die abfallende Flanke jeder Spanleitstufe - im abfallenden Schneidkantenabschnitt von der Schneidecke zur Schneidkantenmitte hin in ihrer Breite zunimmt, und

- mit einem Winkel ß1, ß2 größer als 130° an einen gegenüber den Schneidkanten abgesenkten Mittelteil angrenzt, gelöst.

Das zuletzt genannte Merkmal ist dabei aufgrund der Beschreibung (s. Sp. 4, Z. 12 bis 22) in Verbindung mit der Figur 1 so zu verstehen, daß die abfallende Flanke auf der ganzen Länge jeder Spanleitstufe mit dem genannten Winkel an das abgesenkte Mittelteil angrenzt, wogegen bei dem bekannten Schneideinsatz dies aufgrund der Erhebung nur für Teile jeder Spanleitstufe zutrifft, wie im obigen Abschnitt 3.2.3 dargelegt ist.

5.2. Die Lösung beruht mithin auf dem Gedanken, die Schneideigenschaften des Schneideinsatzes nach der Druckschrift D4 durch die Verbindung bekannter Elemente - großer positive Neigungswinkel, großer Spanwinkel, abfallende Flanken der Spanleitstufen, die sich über den Eckenbereich erstrecken, deren vorteilhafte Wirkungen hinsichtlich der Spanbildung, des Spanablaufs, der Oberflächengüte des bearbeiteten Materials, der Schnittleistung und der Schnittkräfte (s. a. EP-B- 0 125 568: Sp. 2, Z. 24 bis 35 und 42 bis 58) bekannt sind, - mit den zusätzlichen Merkmalen hinsichtlich der Spanbildung und Schnittkräfte zu verbessern.

Die zunehmende Breite der abfallenden Flanke jeder Spanleitstufe von der Schneidecke zur Schneidkantenmitte hin, bewirkt ebenfalls eine optimale Spanbildung sowohl bei großen als auch kleinen Schnittiefen sowie eine verstärkte Wendelspanbildung. Die abfallende Flanke jeder Spanleitstufe verbessert diese Spanbildung zudem dadurch, daß die Flanke mit einem Winkel von größer als 130° in das abgesenkte Mittelteil des Schneideinsatzes übergeht, so daß der ablaufende Span auf keine stark ansteigende Fläche trifft und daher nicht übermäßig gestaucht wird. Die Folge dieses weichen Spanablaufs sind wiederum niedrige Schnittkräfte (s. a. EP-B-0 125 568: Sp. 2, Z. 36 bis 41 sowie Sp. 2, Z. 59 bis Sp. 3, Z. 4).

5.3. Aus dem Obigen ergibt sich, daß die vereinigten Elemente oder Merkmale in einer funktionellen Wechselwirkung miteinander stehen, derart, daß sie sich einander gegenseitig zur Erreichung eines über die Summe ihrer jeweiligen Einzelwirkungen hinausgehenden technischen Erfolgs beeinflussen. Denn durch dieses Zusammenwirken der Merkmale im Sinne einer Kombination wird erreicht, daß der Schneideinsatz nach Anspruch 1 des in Frage gestellten Patents auch zur Bearbeitung von Aluminium, Molybdän, Kunststoffen oder ähnlichen Materialien eingesetzt werden kann. Dies ist von dem Beschwerdegegner nicht angezweifelt worden.

6. Erfinderische Tätigkeit

Zur Frage, ob der schriftlich belegte Stand der Technik für das Zusammenwirken aller Merkmale unter Berücksichtigung ihrer Funktion innerhalb einer Kombination im Sinne der Lehre des Anspruchs 1 des erteilten Patents eine Anregung geben konnte, wird folgendes ausgeführt:

6.1. Nach der Lehre der Druckschrift D4 ist zur Erzielung einer günstigen Spanform und zur Verringerung der Schnittkräfte die Merkmalskombination von geneigten Schneidkanten, geneigten Spanleitstufen von konstanter Breite und Spanformelementen in Form von Erhebungen im abgesenkten Zentrum des Schneideinsatzes sowie in Form von Flächen zwischen dem Zentrum und den Schneidkanten wesentlich (s. a. obigen Abschnitt 3.2). Irgendwelche Hinweise, die den Fachmann veranlassen könnten, von dieser Merkmalskombination abzulassen, um das zuvor genannte technische Problem auch mit einer anderen Merkmalskombination zu lösen, ist der Druckschrift D4 nicht zu entnehmen.

6.2. Die Druckschrift D6 betrifft einen Schneideinsatz, der ein gegenüber den Schneidkanten abgesenktes Mittelteil aufweist, bei dem der Spanwinkel der abfallenden Flanken der Spanleitstufen und der Winkel zwischen den Flanken und dem Mittelteil in etwa den im in Frage gestellten Patent festgelegten Werten entspricht, wobei zwischen den Schneidkanten und den Spanleitstufen eine Fase vorgesehen sein kann (s. Ansprüche 1 und 4 sowie Figuren).

Bei dem Schneideinsatz gemäß der Druckschrift D10, der auch ein gegenüber den Schneidkanten abgesenktes Mittelteil hat, ist dagegen die Fase zwischen den Schneidkanten und den Spanleitstufen zwingend vorgesehen (s. Anspruch 1, Z. 39 und 40). Auch nimmt die Breite der abfallenden Flanken der Spanleitstufen von den Schneidecken zur Schneidkantenmitte hin zu (s. Fig. 1).

Trotz dieser unterschiedlichen Merkmalskombinationen wird bei diesen beiden Schneideinsätzen jedoch die gleiche Aufgabe gelöst, nämlich eine verbesserte und zuverlässige Kontrolle des Spanablaufs bei verminderter Antriebsleistung zu erzielen (s. Druckschrift D6: Sp. 2, Z. 4 bis 8; Druckschrift D10: Sp. 1, Z. 50 und 51 sowie Sp. 2, Z. 34 bis 36).

Anregungen, die den Fachmann veranlassen könnten, von der jeweiligen, für die Lösung der in den Druckschriften D6 und D10 genannten Aufgabe als wesentlich gefundenen Merkmalskombination abzugehen, sind in diesen Druckschriften nicht zu finden.

6.3. Aus den Abschnitten 3.2, 6.1 und 6.2 geht hervor, daß ein ganz bestimmter technischer Gesamterfolg immer auf dem gezielten Zusammenwirken ganz bestimmter Merkmale unter Berücksichtigung ihrer jeweiligen Funktionen beruht.

Es ist daher nicht erkennbar und auch von den Beschwerdegegnern nicht begründet worden, was den Fachmann veranlassen könnte, welches Merkmal oder welche Merkmalsgruppen der Merkmalskombination nach der Druckschrift D6 oder D10, die für den jeweiligen Schneideinsatz wesentlich ist, gezielt aus der jeweiligen Merkmalskombination herausgelöst werden sollten, um mit einem ganz bestimmten Merkmal oder einer ganz bestimmten Merkmalsgruppe, gezielt herausgelöst aus der Merkmalskombination nach der Druckschrift D4, zu einem ganz bestimmten Schneideinsatz wieder verbunden zu werden, mit dem dann auch Aluminium, Molybdän, Kunststoffe oder ähnliche Materialien bearbeitet werden können. Dabei spielt es keine Rolle, daß einzelne Merkmale der Merkmalskombination an sich bekannt sind, denn das Bekanntsein einzelner oder auch mehrerer Merkmale läßt keinen zuverlässigen Schluß auf das Naheliegen einer Kombination zu (folgend der Entscheidung: "Gießpfanne/ MANNESMANN", T 37/85, ABl. EPA 1988, 086; Abschnitt 4.5).

6.4. Die erstmals im Beschwerdeverfahren genannten Druckschriften D19 bis D23 zeigen eine Vielzahl von Schneideinsätzen mit unterschiedlichen Merkmalskombinationen für unterschiedliche Anwendungsbereiche, die jedoch nicht über das hinausgehen, was dem oben erörterten Stand der Technik zu entnehmen ist. Diese Druckschriften können daher, wie im übrigen auch die restlichen, in den Verfahren vor dem Europäischen Patentamt genannten Druckschriften, weder für sich noch in Verbindung mit den durch den erörterten Stand der Technik vermittelten Lehren eine Anregung geben, aufgrund deren der Fachmann ohne erfinderische Tätigkeit zu einem Schneideinsatz gemäß der Lehre des Anspruchs 1 gelangen würde.

6.5. Der Gegenstand des Anspruchs 1 des erteilten Patents beruht mithin auf einer erfinderischen Tätigkeit im Sinne des Artikels 56 EPÜ.

7. Das Patent hat deshalb Bestand und kann mit dem Anspruch 1 sowie den auf ihn rückbezogenen Ansprüchen 2 bis 4 in unveränderter Form aufrechterhalten werden.

8. Bei dieser Sachlage erübrigt sich ein Eingehen auf den Hilfsantrag des Beschwerdeführers.

Entscheidungsformel

ENTSCHEIDUNGSFORMEL

Aus diesen Gründen wird entschieden:

1. Die angefochtene Entscheidung wird aufgehoben.

2. Die Sache wird an die erste Instanz mit der Auflage zurückverwiesen, das Patent, wie erteilt, aufrechtzuerhalten.

Footer - Service & support
  • Unterstützung
    • Aktualisierungen der Website
    • Verfügbarkeit der Online-Dienste
    • FAQ
    • Veröffentlichungen
    • Verfahrensbezogene Mitteilungen
    • Kontakt
    • Aboverwaltung
    • Offizielle Feiertage
    • Glossar
Footer - More links
  • Jobs & Karriere
  • Pressezentrum
  • Single Access Portal
  • Beschaffung
  • Beschwerdekammern
Facebook
European Patent Office
EPO Jobs
Instagram
EuropeanPatentOffice
Linkedin
European Patent Office
EPO Jobs
EPO Procurement
X (formerly Twitter)
EPOorg
EPOjobs
Youtube
TheEPO
Footer
  • Impressum
  • Nutzungsbedingungen
  • Datenschutz
  • Barrierefreiheit