4.18
Méthode et moyens de mesure des paramètres mentionnés dans les revendications 

Un autre cas particulier se présente lorsque l'invention est caractérisée par des paramètres (cf. DIR/PCT-OEB, F‑IV, 4.11). Le point F‑IV, 4.18 des Directives relatives à l'examen pratiqué à l'OEB s'applique.

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